[发明专利]具有使得能够实现多维中的不同访问模式的配线结构的存储器架构有效
申请号: | 201480036153.X | 申请日: | 2014-01-23 |
公开(公告)号: | CN105359119B | 公开(公告)日: | 2017-11-17 |
发明(设计)人: | 阿尔泊·布约克托苏诺格鲁;菲利普·G·埃玛;艾伦·M·哈特斯坦;M·B·海利;K·K·凯拉斯 | 申请(专利权)人: | 国际商业机器公司 |
主分类号: | G06F13/00 | 分类号: | G06F13/00 |
代理公司: | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所11038 | 代理人: | 欧阳帆 |
地址: | 美国*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | 提供了多维存储器架构,所述多维存储器架构具有使得能够实现多维中的不同访问模式的访问配线结构。此外,提供了三维多处理器系统,所述三维多处理器系统包括多维缓存存储器架构,所述多维缓存存储器架构具有使得能够实现多维中的不同访问模式的访问配线结构。 | ||
搜索关键词: | 具有 使得 能够 实现 多维 中的 不同 访问 模式 结构 存储器 架构 | ||
【主权项】:
一种半导体设备,包括:第一芯片和第二芯片,所述第一芯片和所述第二芯片组合形成堆叠的结构;所述第一芯片具有功能电路,所述功能电路包括具有可扫描的触发器和锁存器的多个扫描单元;所述第二芯片具有扫描测试电路和扫描测试输入/输出接口,其中所述第一芯片的扫描单元经由所述扫描测试输出/输出接口连接到所述第二芯片的扫描测试电路,所述扫描测试电路运行以动态配置所述第一芯片的扫描单元之间的电互联以形成用于测试所述第一芯片上的功能电路的扫描链或扫描环;其中所述扫描测试电路包括:解复用器电路;复用器电路;扫描链配置和测试控制电路;其中每个解复用器电路具有输入,该输入被连接到所述第一芯片的功能电路上的扫描单元的输出,以及两个或更多的输出,该输出被连接到所述复用器电路的不同的输入;其中每个复用器电路具有输出,该输出被连接到第一芯片的功能电路上的扫描单元的输入,以及两个或更多输入,该输入被连接到所述解复用器电路的不同的输出;其中所述扫描连配置和测试控制电路产生控制信号以控制所述解复用电路和所述复用器电路,以动态地配置所述第一芯片的功能电路上的扫面单元的输出和输入之间的电互联,以形成扫描链或扫描环。
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