[发明专利]用于确定散装材料的表面的拓扑结构的测量装置控制系统在审
| 申请号： | 201480025185.X | 申请日： | 2014-05-08 |
| 公开（公告）号： | CN105247327A | 公开（公告）日： | 2016-01-13 |
| 发明（设计）人： | 罗兰·韦勒;约瑟夫·费伦巴赫 | 申请（专利权）人： | VEGA格里沙贝两合公司 |
| 主分类号： | G01F23/284 | 分类号： | G01F23/284;G01S13/42 |
| 代理公司： | 北京信慧永光知识产权代理有限责任公司 11290 | 代理人： | 陈桂香;曹正建 |
| 地址： | 德国沃*** | 国省代码： | 德国;DE |
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| 摘要： | 为了确定散装材料表面的拓扑结构，检测位于天线的不同的主要辐射方向上的一系列回波曲线。所述天线的所述主要辐射方向能够以使得所述一系列回波曲线的生成的所有回波曲线都能够被用于确定所述散装材料表面的拓扑结构的方式而改变。以这样的方式，能够缩减测量时间。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 确定 散装 材料 表面 拓扑 结构 测量 装置 控制系统 | ||
【主权项】：
一种用于确定存储于容器中的散装材料(1102)的表面的拓朴结构的测量装置(1300)，其包括：天线配置(1301)，其用于在所述天线配置的主要辐射方向上发射传输信号并且用于接收至少在所述散装材料的表面上被反射的所述传输信号；回波曲线产生单元(1303)，其从被反射并被所述天线配置接收的所述传输信号生成回波曲线，所述回波曲线对应于被反射的所述传输信号在所述测量装置的距离测量范围上的信号强度；定位装置(1307、1308)，其用于以能够在不同的所述主要辐射方向上产生一系列回波曲线的方式改变所述天线配置的所述主要辐射方向(1305)；其中，所述定位装置包括控制系统，所述控制系统被构造用来改变所述天线配置的所述主要辐射方向(1305)，以使生成的所述一系列回波曲线中的无法用于确定所述拓朴结构的回波曲线的数量最小化。
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