[发明专利]用于确定散装材料的表面的拓扑结构的测量装置控制系统

权利要求书

1.一种用于确定存储于容器中的散装材料(1102)的表面的拓朴结构的测量装置(1300)，其包括：

天线配置(1301)，其用于在所述天线配置的主要辐射方向上发射传输信号并且用于接收至少在所述散装材料的表面上被反射的所述传输信号；

回波曲线产生单元(1303)，其从被反射并被所述天线配置接收的所述传输信号生成回波曲线，所述回波曲线对应于被反射的所述传输信号在所述测量装置的距离测量范围上的信号强度；

定位装置(1307、1308)，其用于以能够在不同的所述主要辐射方向上产生一系列回波曲线的方式改变所述天线配置的所述主要辐射方向(1305)；

其中，所述定位装置包括控制系统，所述控制系统被构造用来改变所述天线配置的所述主要辐射方向(1305)，以使生成的所述一系列回波曲线中的无法用于确定所述拓朴结构的回波曲线的数量最小化。

2.如权利要求1所述的测量装置，其中，用于改变所述天线配置的所述主要辐射方向(1305)的所述控制系统是以这样的方式构造的：由所述定位装置设定的所有所述主要辐射方向都位于三维空间内，所述三维空间不触及所述容器中的由所有测量装置最新确定的料位上方的容器壁。

3.如权利要求1或2所述的测量装置，其中，所述控制系统被构造为当改变所述天线配置的所述主要辐射方向(1305)时顾及储存所述散装材料的所述容器的几何形状。

4.如前述任一权利要求所述的测量装置，其中，所述控制系统被构造为仅仅在限定所述散装材料的表面的子区域的角范围内改变所述天线配置的所述主要辐射方向(1305)。

5.如前述任一权利要求所述的测量装置，其中，所述控制系统被构造为沿着螺旋路径移动所述主要辐射方向。

6.如前述任一权利要求所述的测量装置，其中，所述控制系统被构造为依据由所述测量装置最新确定的料位，设定用于产生两个连续的回波曲线的所述天线配置的两个所述主要辐射方向之间的角度差。

7.如前述任一权利要求所述的测量装置，其中，所述控制系统被构造为依据所述散装材料的表面的局部拓朴结构，设定用于产生两个连续的回波曲线的所述天线配置的两个所述主要辐射方向之间的角度差。

8.如前述任一权利要求所述的测量装置，其中，所述控制系统被构造为依据由所述测量装置最新确定的料位，确定所述天线配置的所述主要辐射方向相对于垂直轴的最大角度。

9.如前述任一权利要求所述的测量装置，其包括：

4-20mA通信接口，其用于连接至4-20mA双线式线路；

其中，所述水平测量装置被构造为仅经由此4-20mA通信接口被供电。

10.如前述任一权利要求所述的测量装置，其包括：

以太网络(Ethernet)通信接口，其用于连接至局域网络(LAN)；

其中，所述水平测量装置被构造为仅经由此以太网络通信接口被供电。

11.一种如权利要求1至10中任一项所述的测量装置的使用，其用于确定位于传送带上的散装材料的体积流量。

12.一种如权利要求1至10中任一项所述的测量装置的使用，其用于确定散装材料的质量。

13.一种用于确定散装材料(1302)的表面的拓朴结构的方法，该方法包括以下步骤：

在天线配置的主要辐射方向上发射传输信号；

接收至少在所述散装材料的表面上被反射的所述传输信号；

从被反射并且被所述天线配置接收的所述传输信号产生回波曲线，所述回波曲线对应于被反射的所述传输信号在所述测量装置的距离测量范围上的信号强度；

以这样的方式改变所述天线配置的所述主要辐射方向(1305)：在不同的所述主要辐射方向上产生一系列回波曲线，同时最小化生成的所述一系列回波曲线中的无法用于确定所述拓朴结构的回波曲线的数量。