[发明专利]磁场值测定装置以及磁场值测定方法有效
申请号: | 201480016966.2 | 申请日: | 2014-03-28 |
公开(公告)号: | CN105102989B | 公开(公告)日: | 2017-06-23 |
发明(设计)人: | 齐藤准;吉村哲;木下幸则;野村光;中谷亮一 | 申请(专利权)人: | 国立大学法人秋田大学;国立大学法人大阪大学 |
主分类号: | G01Q60/50 | 分类号: | G01Q60/50 |
代理公司: | 北京林达刘知识产权代理事务所(普通合伙)11277 | 代理人: | 刘新宇 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | 一种磁场测定装置,具备振动式的探针装置(11),其具备探针(111),该探针(111)含有一种以上的具有磁化强度与外部磁场的大小成比例这种性质的材料;探针(111)用的机械振动源(12);检测探针(111)的振动频率和振幅的振动检测装置(13);向探针(111)施加频率与探针(111)的机械振动频率不同的交流磁场的交流磁场产生装置(14);向探针(111)施加直流外部磁场的直流外部磁场产生装置(15);检测在探针(111)的机械振动中产生的频率调制的频率调制检测装置(16);对直流外部磁场产生装置向探针(111)施加的机械振动方向的直流外部磁场的大小进行调整的直流外部磁场控制装置(17);以及直流磁场确定装置(18),其根据频率调制的大小为极小时的直流外部磁场产生装置的输出值,来确定从观察试样(100)产生的直流磁场的值。 | ||
搜索关键词: | 磁场 测定 装置 以及 方法 | ||
【主权项】:
一种检测从观察试样产生的直流磁场的磁场测定装置,其特征在于,具备:振动式的探针装置,其具备探针,该探针含有一种以上的具有磁化强度与外部磁场的大小成比例这种性质的材料;机械振动源,其对上述探针进行机械激励;振动检测装置,其检测上述探针的机械振动频率和机械振动振幅;交流磁场产生装置,其向上述探针施加交流磁场,该交流磁场在上述探针的机械振动方向上的变化率不为零且频率与上述探针的机械振动频率不同;直流外部磁场产生装置,其向上述探针施加上述机械振动方向的直流外部磁场;频率调制检测装置,其基于上述振动检测装置所检测出的上述机械振动频率来检测在上述探针的机械振动中产生的频率调制;直流外部磁场调整装置,其对上述直流外部磁场产生装置向上述探针施加的上述机械振动方向的直流外部磁场的大小进行调整;以及直流磁场确定装置,其根据上述频率调制的大小为极小时的上述直流外部磁场产生装置的输出值、或者要使上述频率调制的大小成为极小时的上述直流外部磁场产生装置的预测输出值,来确定从上述观察试样产生的上述机械振动方向的上述直流磁场的值。
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