[发明专利]磁性体检测装置在审

专利信息
申请号: 201480016352.4 申请日: 2014-03-18
公开(公告)号: CN105190339A 公开(公告)日: 2015-12-23
发明(设计)人: 望月信助 申请(专利权)人: 浜松光电株式会社
主分类号: G01R33/09 分类号: G01R33/09
代理公司: 北京律诚同业知识产权代理有限公司 11006 代理人: 高龙鑫
地址: 日本静岡*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 磁性体检测装置具备长条状的磁铁(12、13)及强磁性体薄膜磁电阻元件(23、24)。磁铁(12、13)分别在Y轴方向上平行地延伸设置,且在Z轴方向上以互相相反的方向磁化。强磁性体薄膜磁电阻元件(23、24)在磁铁(12、13)间的磁力线路径内配置的基板(22)的平面上具有大致沿Y轴方向延伸的线状部分,相对于与基板(22)的平面内的Y轴方向垂直相交的方向的磁场的变化使电阻值发生变化。通过磁铁(12、13),对强磁性体薄膜磁电阻元件(23、24)施加偏置磁场,所述偏置磁场具有比强磁性体薄膜磁电阻元件(23、24)的饱和磁场的强度更小的磁场强度且位于与基板(22)的平面内的Y轴方向垂直相交的方向上。
搜索关键词: 磁性 体检 装置
【主权项】:
一种磁性体检测装置,用于检测在第一方向上移动的验证物所包含的磁性体,其特征在于,所述装置具备:长条状的第一磁铁及第二磁铁,分别在与所述第一方向垂直相交的第二方向上平行地延伸,在与所述第一方向及所述第二方向垂直相交的第三方向上以互相相反的方向磁化;磁传感器,具有强磁性体薄膜磁电阻元件,所述强磁性体薄膜磁电阻元件以具有在所述第一磁铁及所述第二磁铁之间的磁力线路径内配置的基板的平面上大致沿所述第二方向延伸的线状部分的方式形成,且相对于与所述基板的平面内的所述第二方向垂直相交的方向的磁场的变化使电阻值发生变化;通过所述第一磁铁及所述第二磁铁,将比所述强磁性体薄膜磁电阻元件的饱和磁场的强度更小的强度的磁场作为在与所述基板的平面内的所述第二方向垂直相交的方向上的偏置磁场施加给所述强磁性体薄膜磁电阻元件。
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