[发明专利]磁性体检测装置

权利要求书

1.一种磁性体检测装置，用于检测在第一方向上移动的验证物所包含的磁性体，其特征在于，所述装置具备：

长条状的第一磁铁及第二磁铁，分别在与所述第一方向垂直相交的第二方向上平行地延伸，在与所述第一方向及所述第二方向垂直相交的第三方向上以互相相反的方向磁化；

磁传感器，具有强磁性体薄膜磁电阻元件，所述强磁性体薄膜磁电阻元件以具有在所述第一磁铁及所述第二磁铁之间的磁力线路径内配置的基板的平面上大致沿所述第二方向延伸的线状部分的方式形成，且相对于与所述基板的平面内的所述第二方向垂直相交的方向的磁场的变化使电阻值发生变化；

通过所述第一磁铁及所述第二磁铁，将比所述强磁性体薄膜磁电阻元件的饱和磁场的强度更小的强度的磁场作为在与所述基板的平面内的所述第二方向垂直相交的方向上的偏置磁场施加给所述强磁性体薄膜磁电阻元件。

2.权利要求1所述的磁性体检测装置，其特征在于，

所述基板的平面相对于第一方向倾斜而配置，

且使所述强磁性体薄膜磁电阻元件的线状部分在所述基板的平面上相对于所述基板的平面内的所述第二方向倾斜规定角度而延伸设置。

3.权利要求1或2所述的磁性体检测装置，其特征在于，

所述装置还设置有包覆构件，所述包覆构件由磁性体构成且用于包覆所述第一磁铁及所述第二磁铁的与所述磁传感器相反侧的磁极面。

4.权利要求1-3中任一项所述的磁性体检测装置，其特征在于，

在所述第二方向的同一位置，所述磁传感器具有在所述基板的平面上由强磁性体薄膜磁电阻元件形成且使线状部分互相面对面的第一磁电阻元件及第二磁电阻元件；

所述基板的平面以如下方式相对于所述第一方向倾斜规定角度而配置：使所述第一磁铁及所述第二磁铁所产生的磁力线在所述第一磁电阻元件及所述第二磁电阻元件间的中央位置垂直地通过所述基板的平面，并使所述方向的施加给所述第一磁电阻元件的偏置磁场与所述方向的施加给所述第二磁电阻元件的偏置磁场大致呈相反的方向。

5.权利要求4所述的磁性体检测装置，其特征在于，

所述装置还具备电路，该电路将所述第一磁电阻元件与所述第二磁电阻元件串联，通过向两端施加规定电压来取得所述第一磁电阻元件与所述第二磁电阻元件的连接点的电压。

6.权利要求4所述的磁性体检测装置，其特征在于，

所述磁传感器还具有第三磁电阻元件及第四磁电阻元件，所述第三磁电阻元件及所述第四磁电阻元件在所述基板的平面上将所述第一磁电阻元件及所述第二磁电阻元件分别在所述第二方向上延长的位置，以分别具有在所述基板的平面上大致沿所述第二方向延伸设置且互相面对面的线状部分的方式由强磁性体薄膜磁电阻元件所形成，并使电阻值根据与所述基板的平面内的所述第二方向垂直相交的方向的磁场的变化发生变化；

使所述第一磁铁及所述第二磁铁所产生的磁力线在所述第三磁电阻元件及所述第四磁电阻元件间的中央位置垂直地通过所述基板的平面，使所述方向上的施加给所述第三磁电阻元件的偏置磁场与所述方向上的施加给所述第四磁电阻元件的偏置磁场大致呈相反的方向，且所述方向上的施加给所述第三磁电阻元件的偏置磁场和所述方向上的施加给所述第一磁电阻元件的偏置磁场呈同一方向；

所述装置还具备如下电路：将所述第一磁电阻元件的所述第三磁电阻元件侧的端子和所述第四磁电阻元件的所述第二磁电阻元件侧的端子相连接，将所述第二磁电阻元件的所述第四磁电阻元件侧的端子和所述第三磁电阻元件的所述第一磁电阻元件侧的端子相连接，将所述第一磁电阻元件的与所述第三磁电阻元件相反侧的端子和所述第二磁电阻元件的与所述第四磁电阻元件相反侧的端子相连接，且将所述第三磁电阻元件的与所述第一磁电阻元件相反侧的端子和所述第四磁电阻元件的与所述第二磁电阻元件相反侧的端子相连接，并在所述第一磁电阻元件与所述第二磁电阻元件的连接点、和所述第三磁电阻元件与所述第四磁电阻元件的连接点之间施加规定电压，从而取得所述第一磁电阻元件与所述第四磁电阻元件的连接点的电压、和所述第二磁电阻元件与所述第三磁电阻元件的连接点的电压的电压差。