[发明专利]用于信号不均匀性校正和性能评估的方法和装置在审
| 申请号： | 201480015660.5 | 申请日： | 2014-03-14 |
| 公开（公告）号： | CN105283780A | 公开（公告）日： | 2016-01-27 |
| 发明（设计）人： | J·王;Z-L·鲁;R·T·康斯特布尔 | 申请（专利权）人： | 俄亥俄州创新基金会;耶鲁大学 |
| 主分类号： | G01V3/38 | 分类号： | G01V3/38;G06K7/10;A61B5/055 |
| 代理公司： | 北京坤瑞律师事务所 11494 | 代理人： | 巫肖南 |
| 地址： | 美国俄*** | 国省代码： | 美国;US |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 公开了用于校正磁共振(MR)图像的不均匀性和用于评估不均匀性校正的性能的方法。发射场和接收器灵敏度对信号不均匀性的贡献已被单独考虑和量化。因此，它们的负贡献可被充分校正。校正方法可极大地增强MRI技术的准确度和精确度并提高病理生理学变化的检测灵敏度。使用幻像和活体内人脑实验来评估和确认信号不均匀性校正方法的性能。本方法可容易应用于校正由不同的成像方法，例如计算机断层摄影(CT)、X射线、超声和透射电子显微镜所产生的信号强度不均匀性伪影。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 信号 不均匀 校正 性能 评估 方法 装置 | ||
【主权项】：
一种校正在MRI图像中的不均匀信号强度的方法，所述方法包括：获取一组信号强度图像；估计发射场或翻转角图；估计接收器灵敏度图；基于所述发射场和所述信号强度图像的Bloch方程来估计发射函数；根据Bloch方程使用翻转角α3计算发射函数；根据所述发射函数和所述接收器灵敏度图估计相对校正矩阵；使所述相对校正矩阵与所述一组信号强度图像配准以产生相对校正矩阵；标准化所述相对校正矩阵以得到校正矩阵；以及校正所述信号强度图像中的不均匀性包括计算所述信号强度图像的比和所述校正矩阵。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于俄亥俄州创新基金会;耶鲁大学，未经俄亥俄州创新基金会;耶鲁大学许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201480015660.5/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：粉末容器和图像形成设备
- 下一篇：周边监视系统、作业车辆以及周边监视方法
