[发明专利]用于信号不均匀性校正和性能评估的方法和装置

权利要求书

1.一种校正在MRI图像中的不均匀信号强度的方法，所述方法包括：

获取一组信号强度图像；

估计发射场或翻转角图；

估计接收器灵敏度图；

基于所述发射场和所述信号强度图像的Bloch方程来估计发射函数；

根据Bloch方程使用翻转角α₃计算发射函数；

根据所述发射函数和所述接收器灵敏度图估计相对校正矩阵；

使所述相对校正矩阵与所述一组信号强度图像配准以产生相对校正矩阵；

标准化所述相对校正矩阵以得到校正矩阵；以及

校正所述信号强度图像中的不均匀性包括计算所述信号强度图像的比和所述校正矩阵。

2.如权利要求1所述的方法，其中估计发射场或翻转角图包括使用基于振幅或基于相位的方法来估计发射场或翻转角图。

3.如权利要求1所述的方法，其中估计发射场或翻转角图包括使用低分辨率图像来估计发射场或翻转角图。

4.如权利要求1所述的方法，其中估计发射场或翻转角图包括使用RF补偿或绝热脉冲或复合脉冲或修整脉冲来估计发射场或翻转角图。在施加RF补偿和这些补偿脉冲之后，所述发射场或翻转角图可被近似为常数。

5.如权利要求1所述的方法，其中可从图像域和k空间数据两者估计发射场或翻转角图。

6.如权利要求1所述的方法，其中估计接收器灵敏度图包括使用基于信号强度的方法和基于场的方法之一。

7.如权利要求6所述的方法，其中基于信号强度的方法是预扫描方法、最小对比度方法、均匀磁化方法和偏磁场方法之一。

8.如权利要求6所述的方法，其中基于场的方法是旋转场方法、校准方法、电磁场的互易原则和电磁场方法之一。

9.如权利要求1所述的方法，其中估计接收器灵敏度图经受图像域数据和k空间数据操作两者。

10.如权利要求1所述的方法，其中所述发射函数是使用成像参数的预定选择的给定感兴趣区或给定感兴趣成分的区的常数。

11.如权利要求10所述的方法，其中常数可以是在装载的物体中的两个或多个成分的平均、最小化或最大化T₁和/或T₂。

12.如权利要求1所述的方法，其中常数T₁和T₂可用于产生发射函数，如果在整个图像中的T₁和/或T₂是成分相关的，则所述发射函数在整个图像中独立于T₁和/或T₂。

13.如权利要求1所述的方法，其中用于不均匀性校正的所述成像参数应是用于获取可变成像参数序列的k空间零线或k空间的中心的有效成像参数。

14.如权利要求1所述的校正方法，其用于提高结构和/或功能MR成像、MR光谱和MR光谱成像的图像质量或量化。

15.如权利要求1所述的方法，其中可通过任何磁共振成像序列(例如梯度回波、自旋回波、回波平面成像、有或没有磁化准备脉冲的快速自旋回波)及任何发射和接收线圈来获取被校正的信号不均匀性。

16.如权利要求1所述的方法，其中可通过多射频脉冲，射频脉冲、再聚焦脉冲和磁化准备脉冲中的至少一个来获取被校正的图像。

17.一种使用已知的幻像来评估经校正图像的性能的方法，其包括：

获取所述幻像的图像；

使用多个不同的校正方法之一校正所述图像的信号不均匀性；以及

使用所述多个不同的校正方法之一评估图像的质量评价的性能，

其中所述幻像是均匀幻像、美国放射学会(ACR)幻像和物体状幻像之一。

18.如权利要求17所述的方法，其中所述物体状包括多组织或多成分，所述多组织或多成分的MRI参数，T₁、T₂、质子密度、扩散、磁化转移、灌流、流量、导电率、磁化率、电容率、几何结构中的至少一个，类似于或等于被成像的受试者活体内的感兴趣区的那些。