[发明专利]用于测量和优化光电子组件的方法和设备有效
| 申请号： | 201480012703.4 | 申请日： | 2014-03-06 |
| 公开（公告）号： | CN105026941B | 公开（公告）日： | 2019-01-18 |
| 发明（设计）人： | 罗伯特·舒尔茨;安东·沃格尔;雷蒙德·奥伯施密德;罗兰德·蔡塞尔;迈克尔·迪策尔 | 申请（专利权）人： | 欧司朗光电半导体有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/26 | 分类号： | G01R31/26 |
| 代理公司： | 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 | 代理人： | 丁永凡;高少蔚 |
| 地址： | 德国雷*** | 国省代码： | 德国;DE |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明描述了一种用于测量设置在连接载体(100)上的至少一个光电子组件(10)的方法。所述方法包括：激励电磁振荡电路(38，39)，所述电磁振荡电路通过光电子组件(10)和连接载体(100)形成，使得激励光电子组件(10)以发射电磁辐射(70)；以及测量光电子组件(10)的至少一种光电特性。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 测量 优化 光电子 组件 方法 设备 | ||
【主权项】：
1.一种用于测量设置在连接载体(100)上的至少一个光电子组件(10)的方法，其中所述连接载体是金属框，其中所述连接载体(100)设置成将至少一个所述光电子组件(10)在直流方面短路，使得通过至少一个所述光电子组件(10)和所述连接载体(100)形成至少一个电磁振荡电路(38，39)，并且其中所述方法包括如下步骤：‑激励至少一个所述电磁振荡电路(38，39)，使得激励至少一个所述光电子组件(10)以发射电磁辐射(70)，以及‑测量至少一个所述光电子组件(10)的至少一种光电特性。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于欧司朗光电半导体有限公司，未经欧司朗光电半导体有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201480012703.4/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：感测导体中的电流
- 下一篇：用于对远程目标成像的高光谱成像系统和方法
