[发明专利]用于射频多芯片集成电路封装的电磁干扰外壳在审
申请号: | 201480010118.0 | 申请日: | 2014-03-06 |
公开(公告)号: | CN105074917A | 公开(公告)日: | 2015-11-18 |
发明(设计)人: | K-P·黄;Y·K·宋;D·W·金;C·尹 | 申请(专利权)人: | 高通股份有限公司 |
主分类号: | H01L23/552 | 分类号: | H01L23/552;H01L25/065;H05K9/00;H01L23/66 |
代理公司: | 上海专利商标事务所有限公司 31100 | 代理人: | 周敏 |
地址: | 美国加利*** | 国省代码: | 美国;US |
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摘要: | 一种特征涉及多芯片封装,该多芯片封装包括基板以及耦合至该基板的电磁干扰(EMI)屏蔽。至少一个集成电路被耦合至该基板的第一表面。EMI屏蔽包括配置成屏蔽该封装不受射频辐射影响的金属壳、耦合至该金属壳的内表面的至少一部分的介电层、以及多条信号线。这些信号线被耦合至介电层并通过介电层与金属壳电绝缘。至少一个其他集成电路被耦合至EMI屏蔽的内表面,并且EMI屏蔽的内表面的至少一部分面对该基板的第一表面。这些信号线被配置成将电信号提供给第二电路组件。 | ||
搜索关键词: | 用于 射频 芯片 集成电路 封装 电磁 干扰 外壳 | ||
【主权项】:
一种封装,包括:基板,其具有耦合至所述基板的第一表面的至少一个第一电路组件;以及电磁干扰(EMI)屏蔽,其耦合至所述基板,所述EMI屏蔽包括:金属壳,其配置成屏蔽所述封装不受射频辐射影响,介电层,其耦合至所述金属壳的内表面的至少一部分,多条信号线,其耦合至所述介电层并通过所述介电层与所述金属壳电绝缘,以及至少一个第二电路组件,其耦合至所述EMI屏蔽的内表面,所述EMI屏蔽的所述内表面的至少一部分面对所述基板的第一表面,并且所述多条信号线配置成向所述第二电路组件提供电信号。
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