[发明专利]具有可移动光栅的微分相位衬度成像装置有效
申请号: | 201480003086.1 | 申请日: | 2014-09-16 |
公开(公告)号: | CN104837409B | 公开(公告)日: | 2019-08-13 |
发明(设计)人: | H-A·维施曼;E·勒斯尔 | 申请(专利权)人: | 皇家飞利浦有限公司 |
主分类号: | A61B6/03 | 分类号: | A61B6/03;A61B6/06;A61B6/00 |
代理公司: | 永新专利商标代理有限公司 72002 | 代理人: | 蔡洪贵 |
地址: | 荷兰艾*** | 国省代码: | 荷兰;NL |
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摘要: | 一种X射线微分相位衬度成像装置(10)包括:用于产生X射线束的X射线源(20);用于从非相干X射线源(20)产生相干X射线束的源光栅(G0);准直器(22),用于将相干X射线束分离成多个扇形X射线束(28)以穿过对象(14);用于产生干涉图案的相位光栅(G1)和用于根据所述干涉图案产生摩尔图案的布置在所述对象(14)后方的吸光器光栅(G2);以及条纹检测器(24),用于检测由所述相位光栅(G1)和所述吸光器光栅(G2)根据穿过所述对象(14)的所述扇形X射线束(28)产生的所述摩尔图案。所述X射线源(20)、源光栅(G0)、准直器(22)、相位光栅(G1)、吸光器光栅(G2)和条纹检测器(24)固定到公用的机架(12),且可相对于所述对象(14)移动,使得可检测到来自所述机架的不同位置的大量干涉图案,以重构所述对象(14)的微分相位图像。以可供选择的方式,至少一个光栅(G0、G1、G2)包括光栅条纹(34)组(36)和透光区(38)。至少一个光栅(G0、G1、G2)可相对于所述机架(12)移动,使得在所述光栅(G1、G2)的第一位置,所述扇形X射线束(28)穿过所述光栅条纹(34),且在所述光栅(G1、G2)的第二位置,所述扇形X射线束(28)穿过所述透光区(38)。 | ||
搜索关键词: | 光栅 扇形X射线束 干涉图案 相位光栅 吸光器 穿过 检测器 成像装置 光栅条纹 摩尔图案 微分相位 透光区 源光栅 准直器 条纹 相干 衬度 非相干X射线源 微分相位图像 第二位置 第一位置 公用的 可检测 可移动 移动 重构 检测 | ||
【主权项】:
1.一种X射线微分相位衬度成像装置(10),包括:用于产生X射线束的X射线源(20);用于从非相干X射线源(20)产生相干X射线束的源光栅(G0);准直器(22),其包括狭缝(30),所述狭缝用于将所述相干X射线束分离成用以穿过对象(14)的多个扇形X射线束(28);布置在所述对象(14)之后的用于产生干涉图案的相位光栅(G1)和用于从所述干涉图案产生摩尔图案的吸光器光栅(G2);条纹检测器(24),其包括检测器条纹(32),所述检测器条纹用于检测由所述相位光栅(G1)和所述吸光器光栅(G2)从穿过所述对象(14)的所述扇形X射线束(28)产生的所述摩尔图案;所述X射线源(20)、所述源光栅(G0)、所述准直器(22)、所述相位光栅(G1)、所述吸光器光栅(G2)和所述条纹检测器(24)固定到公用的机架(12),且能够相对于所述对象(14)移动,使得能够检测来自所述机架的不同位置的许多干涉图案,以重构所述对象(14)的微分相位图像;光栅条纹(34)组(36)和透光区(38)沿与所述检测器条纹(32)的方向垂直的方向相对于彼此交替;所述源光栅、所述相位光栅和所述吸光器光栅中的至少一个光栅(G0、G1、G2)包括光栅条纹(34)组(36)和介于所述光栅条纹组之间的透光区(38),且能够相对于所述机架(12)移动,使得在所述源光栅(G0)的第一位置,所述X射线束(28)穿过所述光栅条纹(34)且随后穿过所述准直器的狭缝,且在所述源光栅(G0)的第二位置,所述X射线束(28)穿过所述透光区(38)且随后穿过所述准直器的狭缝,或者在所述相位光栅(G1)或所述吸光器光栅(G2)中的至少一个的第一位置,所述扇形X射线束(28)穿过所述光栅条纹(34),且在所述相位光栅(G1)或所述吸光器光栅(G2)中的至少一个的第二位置,所述扇形X射线束(28)穿过所述透光区(38)。
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