[发明专利]具有可移动光栅的微分相位衬度成像装置

权利要求书

1.一种X射线微分相位衬度成像装置(10)，包括：

用于产生X射线束的X射线源(20)；

用于从非相干X射线源(20)产生相干X射线束的源光栅(G0)；

准直器(22)，其包括狭缝(30)，所述狭缝用于将所述相干X射线束分离成用以穿过对象(14)的多个扇形X射线束(28)；

布置在所述对象(14)之后的用于产生干涉图案的相位光栅(G1)和用于从所述干涉图案产生摩尔图案的吸光器光栅(G2)；

条纹检测器(24)，其包括检测器条纹(32)，所述检测器条纹用于检测由所述相位光栅(G1)和所述吸光器光栅(G2)从穿过所述对象(14)的所述扇形X射线束(28)产生的所述摩尔图案；

所述X射线源(20)、所述源光栅(G0)、所述准直器(22)、所述相位光栅(G1)、所述吸光器光栅(G2)和所述条纹检测器(24)固定到公用的机架(12)，且能够相对于所述对象(14)移动，使得能够检测来自所述机架的不同位置的许多干涉图案，以重构所述对象(14)的微分相位图像；

光栅条纹(34)组(36)和透光区(38)沿与所述检测器条纹(32)的方向垂直的方向相对于彼此交替；

所述源光栅、所述相位光栅和所述吸光器光栅中的至少一个光栅(G0、G1、G2)包括光栅条纹(34)组(36)和介于所述光栅条纹组之间的透光区(38)，且能够相对于所述机架(12)移动，使得

在所述源光栅(G0)的第一位置，所述X射线束(28)穿过所述光栅条纹(34)且随后穿过所述准直器的狭缝，且在所述源光栅(G0)的第二位置，所述X射线束(28)穿过所述透光区(38)且随后穿过所述准直器的狭缝，或者

在所述相位光栅(G1)或所述吸光器光栅(G2)中的至少一个的第一位置，所述扇形X射线束(28)穿过所述光栅条纹(34)，且在所述相位光栅(G1)或所述吸光器光栅(G2)中的至少一个的第二位置，所述扇形X射线束(28)穿过所述透光区(38)。

2.根据权利要求1所述的X射线微分相位衬度成像装置(10)，

其特征在于，所述光栅条纹(34)组(36)是等距的且所述透光区(38)是等距的。

3.根据权利要求1或2所述的X射线微分相位衬度成像装置，

其特征在于，所述光栅(G0、G1、G2)包括可透射X射线的基板，且所述透光区(38)包括在所述基板上的没有金属化的区域。

4.根据权利要求3所述的X射线微分相位衬度成像装置，

其特征在于，所述光栅条纹(34)是所述基板上的金属条纹；和/或

所述光栅条纹(34)是所述基板中的填充有金属的沟槽；和/或

所述光栅条纹(34)是所述基板中的沟槽。

5.根据权利要求1或2所述的X射线微分相位衬度成像装置，

其特征在于，所述透光区(38)包括所述光栅的基板中的孔洞。

6.根据权利要求1或2所述的X射线微分相位衬度成像装置(10)，其特征在于，所述成像装置还包括：

用于在所述第一位置和所述第二位置之间移动所述光栅(G1、G2)的马达(40)；及

用于控制所述移动的控制器(26)。

7.根据权利要求1或2所述的X射线微分相位衬度成像装置(10)，

其特征在于，所述光栅(G1、G2)的所述第一位置由机械止动件(44)确定。

8.根据权利要求1或2所述的X射线微分相位衬度成像装置(10)，

其特征在于，所述光栅(G1、G2)的所述第一位置由位置传感器(46)确定。

9.根据权利要求1或2所述的X射线微分相位衬度成像装置(10)，其特征在于，所述成像装置还包括：

用于引导所述光栅的导轨(42)。