[实用新型]用于从测量区域测量光散射的装置有效

专利信息
申请号: 201420587416.3 申请日: 2014-10-11
公开(公告)号: CN204330565U 公开(公告)日: 2015-05-13
发明(设计)人: 乌维·梅尔彻;于尔根·雷杰 申请(专利权)人: 西克工程有限公司
主分类号: G01N21/01 分类号: G01N21/01;G01N21/53;G01N15/06
代理公司: 北京安信方达知识产权代理有限公司 11262 代理人: 宁晓;郑霞
地址: 德国奥滕多*** 国省代码: 德国;DE
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摘要: 实用新型涉及用于检验接收光学器件的光散射测量装置。其中提出一种用于从测量区域测量光散射的装置,其包括用于将光束发射到测量空间的光发射器并包括具有接收光学器件以捕获测量区域中散射光的光接收器,其中设置了调节单元以在测量模式和检验模式之间转换,在测量模式下,光发射器和接收光学器件的光轴彼此呈一定角度且在测量区域彼此相交,在检验模式下,光发射器和接收光学器件的光轴彼此平行且光束逐渐将接收光学器件覆盖以识别污染。同时,接收光学器件可转动地固定到可移动的旋转轴,调节单元在检验模式下首先让接收光学器件绕旋转轴旋转,直至接收光学器件的光轴与光发射器的光轴平行,随后移动旋转轴和接收光学器件。
搜索关键词: 用于 测量 区域 散射 装置
【主权项】:
一种用于从测量区域(12)测量光散射的装置(10),所述装置(10)包括用于将光束(18)发射到所述测量区域(12)中的光发射器(14)以及包括具有接收光学器件(24)的、用于捕获所述测量区域(12)中散射的光的光接收器(22),其中设置有调节单元,以便在测量模式和检验模式之间转换,在所述测量模式下,所述光发射器(14)和所述接收光学器件(24)的光轴彼此呈一定角度且在所述测量区域(12)彼此相交,在所述检验模式下,所述光发射器(14)和所述接收光学器件(24)的光轴彼此平行且所述光束(18)会逐渐将所述接收光学器件(24)覆盖以识别污染,其特征在于,所述接收光学器件(24)可转动地固定在可移动的旋转轴(32)上,并且所述调节单元在所述检验模式下首先让所述接收光学器件(24)绕旋转轴(32)旋转,直到所述接收光学器件(24)的光轴与所述光发射器(14)的光轴平行为止,并随后移动所述旋转轴(32)和所述接收光学器件(24)。
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