[实用新型]应力迁移检测结构有效
申请号: | 201420546188.5 | 申请日: | 2014-09-22 |
公开(公告)号: | CN204155926U | 公开(公告)日: | 2015-02-11 |
发明(设计)人: | 周凤;胡永锋 | 申请(专利权)人: | 中芯国际集成电路制造(北京)有限公司 |
主分类号: | H01L23/544 | 分类号: | H01L23/544 |
代理公司: | 上海思微知识产权代理事务所(普通合伙) 31237 | 代理人: | 屈蘅;李时云 |
地址: | 100176 北京市大兴区*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 本实用新型揭示了一种应力迁移检测结构。所述应力迁移检测结构包括第一金属结构及多个第二金属结构,所述多个第二金属结构的一端与所述第一金属结构相连接;每个第二金属结构通过金属插塞连接多个检测线。本实用新型的应力迁移检测结构能够获得更多的检测数据,因此能够有效的获得正确的设计规格,同时也节省了布局空间。 | ||
搜索关键词: | 应力 迁移 检测 结构 | ||
【主权项】:
一种应力迁移检测结构,其特征在于,包括:第一金属结构及多个第二金属结构,所述多个第二金属结构的一端均与所述第一金属结构相连接,并且每个第二金属结构通过金属插塞连接多个检测线。
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