[实用新型]一种测量超导薄膜材料微波表面阻抗的介质谐振器有效
| 申请号: | 201420523178.X | 申请日: | 2014-09-12 |
| 公开(公告)号: | CN204116459U | 公开(公告)日: | 2015-01-21 |
| 发明(设计)人: | 金飚兵;胡宗渝;吉争鸣 | 申请(专利权)人: | 南京大学 |
| 主分类号: | G01R27/02 | 分类号: | G01R27/02 |
| 代理公司: | 江苏银创律师事务所 32242 | 代理人: | 何震花 |
| 地址: | 210000 江*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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| 摘要: | 一种测量超导薄膜材料微波表面阻抗的介质谐振器,包括底座、弹簧、金属衬底、样品固定环、屏蔽腔体、耦合电缆和上顶盖;所述屏蔽腔体为圆环柱体结;所述屏蔽腔体的圆柱体空腔下部设有环状台阶结构,上部构成屏蔽腔,下部构成卡位腔;所述耦合电缆分输入耦合电缆和输出耦合电缆,分别设于屏蔽腔的两对侧;所述弹簧、金属衬底和样品固定环设于所述卡位腔内;所述样品固定环夹持在金属衬底和屏蔽腔体的环状台阶结构的台阶面之间;所述底座中心设有卡环;所述卡环中心为弹簧槽;可以根据被测样品的大小,采用不同内圆半径的样品固定环来定位样品,省却了要将样品固定环集成在屏蔽空腔内的部件,结构简单,不会影响屏蔽空腔内的整体性和热传导性。 | ||
| 搜索关键词: | 一种 测量 超导 薄膜 材料 微波 表面 阻抗 介质 谐振器 | ||
【主权项】:
一种测量超导薄膜材料微波表面阻抗的介质谐振器,其特征在于,包括底座、弹簧、金属衬底、样品固定环、屏蔽腔体、耦合电缆和上顶盖;所述屏蔽腔体为圆环柱体结构,内部设有圆柱体空腔;所述圆柱体空腔与所述圆环柱体的屏蔽腔体同心轴;所述屏蔽腔体的圆柱体空腔下部设有环状台阶结构,上部构成屏蔽腔,下部构成卡位腔;所述耦合电缆分输入耦合电缆和输出耦合电缆,分别设于屏蔽腔的两对侧;所述弹簧、金属衬底和样品固定环设于所述卡位腔内;所述样品固定环为环状圆片体;所述金属衬底为圆片体;所述样品固定环夹持在金属衬底和屏蔽腔体的环状台阶结构的台阶面之间;所述底座中心设有卡环;所述卡环的外径与所述卡位腔的直径相匹配;所述屏蔽腔体通过所述卡环卡在所述底座上;所述卡环中心为弹簧槽;所述弹簧设在所述弹簧槽内,一端顶着底座,另一端顶着金属衬底的下方;所述上顶盖设于所述屏蔽腔体的上方;所述上顶盖、屏蔽腔体和底座通过螺栓固定。
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