[实用新型]一种测量超导薄膜材料微波表面阻抗的介质谐振器

权利要求书

1.一种测量超导薄膜材料微波表面阻抗的介质谐振器，其特征在于，包括底座、弹簧、金属衬底、样品固定环、屏蔽腔体、耦合电缆和上顶盖；所述屏蔽腔体为圆环柱体结构，内部设有圆柱体空腔；所述圆柱体空腔与所述圆环柱体的屏蔽腔体同心轴；所述屏蔽腔体的圆柱体空腔下部设有环状台阶结构，上部构成屏蔽腔，下部构成卡位腔；所述耦合电缆分输入耦合电缆和输出耦合电缆，分别设于屏蔽腔的两对侧；所述弹簧、金属衬底和样品固定环设于所述卡位腔内；所述样品固定环为环状圆片体；所述金属衬底为圆片体；所述样品固定环夹持在金属衬底和屏蔽腔体的环状台阶结构的台阶面之间；所述底座中心设有卡环；所述卡环的外径与所述卡位腔的直径相匹配；所述屏蔽腔体通过所述卡环卡在所述底座上；所述卡环中心为弹簧槽；所述弹簧设在所述弹簧槽内，一端顶着底座，另一端顶着金属衬底的下方；所述上顶盖设于所述屏蔽腔体的上方；所述上顶盖、屏蔽腔体和底座通过螺栓固定。

2.根据权利要求1所述的测量超导薄膜材料微波表面阻抗的介质谐振器，其特征在于，所述的顶盖、屏蔽腔体、底座自上而下通过螺栓一体固定，所述螺栓的个数为4个。

3.根据权利要求1任意一项所述的测量超导薄膜材料微波表面阻抗的介质谐振器，其特征在于，所述屏蔽腔体的最小内径为20mm，最大内径为28mm。

4.根据权利要求1所述的测量超导薄膜材料微波表面阻抗的介质谐振器，其特征在于，还包括介质圆柱，所述的介质圆柱自由放置在金属衬底上，且介质圆柱和圆柱体空腔同心放置。