[实用新型]用于PCB插损测试的探头有效
申请号: | 201420354120.7 | 申请日: | 2014-06-27 |
公开(公告)号: | CN203949946U | 公开(公告)日: | 2014-11-19 |
发明(设计)人: | 刘丰 | 申请(专利权)人: | 北大方正集团有限公司;珠海方正科技高密电子有限公司;珠海方正印刷电路板发展有限公司 |
主分类号: | G01R1/073 | 分类号: | G01R1/073;G01R27/26 |
代理公司: | 北京友联知识产权代理事务所(普通合伙) 11343 | 代理人: | 梁朝玉;尚志峰 |
地址: | 100871 北京市*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 本实用新型提供了一种用于PCB插损测试的探头,包括:基体;接地体,位于基体的下方、并通过第一弹性件与基体相连接;和探针体,位于基体的下方、并通过第二弹性件与基体相连接;且探针体的下端和接地体的下端均可与PCB相接触。本实用新型提供的用于PCB插损测试的探头,测试时探针体和接地体在竖直方向受压力,第一弹性件和第二弹性件在使用过程中,由于发生弹性形变可起到自动调节和平衡压力的作用,使接地体和探针体在工作时互不干扰,各自独立承受压力,从而均可以和PCB的板面完美接触,无需操作者反复调整压力和施力的方向,省时省力,又能保证测试一致性和稳定性。 | ||
搜索关键词: | 用于 pcb 测试 探头 | ||
【主权项】:
一种用于PCB插损测试的探头,其特征在于,包括:基体;接地体,位于所述基体的下方、并通过第一弹性件与所述基体相连接;和探针体,位于所述基体的下方、并通过第二弹性件与所述基体相连接;且所述探针体的下端和所述接地体的下端均可与所述PCB相接触。
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