[实用新型]用于PCB插损测试的探头

说明书

技术领域

本实用新型涉及PCB技术领域，更具体而言，涉及一种用于PCB插损测试的探头。

背景技术

现有市面上的插损测试探头均利用探针(即：探针本体)或接地片本身材料的弹性来达到探针和接地片同时与被测物(PCB)相接触的目的。

常规的探头结构为平行式，即探针与接地片(各包括两个)在一个平面上，上端均与基体相固定连接，此种方式在测量时需要用很大压力才能使四个接触点与被测物(PCB)平面完全紧密接触，容易因为操作者熟练度不同产生接触不良，最终导致测试结果不准确。

而且，随着测试频率越来越高，很多探头中，因探针和接地片采用相对较脆的金属材料或由于探针的加工工艺影响，导致探针和接地片在使用过程中越来越脆(越来越容易断裂)，因此，传统的设计理念直接导致探针和接地片寿命降低，在重复测试使用过程中易弯易折，同时也会影响测试结果的精确性。

实用新型内容

本实用新型旨在至少解决现有技术中存在的技术问题之一。

为此，本实用新型提供了一种操作简单、使用寿命长、且对PCB的插损测试准确性好的探头。

本实用新型提供了一种用于PCB插损测试的探头，包括：基体；接地体，位于所述基体的下方、并通过第一弹性件与所述基体相连接；和探针体，位于所述基体的下方、并通过第二弹性件与所述基体相连接；且所述探针体的下端和所述接地体的下端均可与所述PCB相接触。

本实用新型提供的用于PCB插损测试的探头，测试时探针体和接地体在竖直方向受压力，第一弹性件和第二弹性件在使用过程中，由于发生弹性形变可起到自动调节和平衡压力的作用，使接地体和探针体在工作时互不干扰，各自独立承受压力，从而均可以和PCB的板面完美接触，无需操作者反复调整压力和施力的方向，省时省力，又能保证测试一致性和稳定性。

而且，本申请还解决了传统的探针体和接地体靠自身弹性平衡受力状态和接触效果所产生的问题，探针体和接地体的寿命不再决定于其自身材料的机械疲劳特性，与相关技术相比，本申请极大地提升了探针体和接地体的使用寿命；当弹簧损坏时可以拆卸更换，与传统方式的探针折断、老化后只能报废处理相比，本申请可以显著降低探头成本。

根据本实用新型的一个实施例，所述的用于PCB插损测试的探头还包括：第一连接体，位于所述基体和所述第一弹性件之间、且所述第一弹性件通过所述第一连接体与所述基体相连接。

根据本实用新型的一个实施例，所述的用于PCB插损测试的探头还包括：第二连接体，位于所述基体和所述第二弹性件之间、且所述第二弹性件通过所述第二连接体与所述基体相连接。

根据本实用新型的一个实施例，所述的用于PCB插损测试的探头还包括：定位桩，位于所述基体的下方、并安装在所述基体上，所述探头通过所述定位桩在所述PCB上进行定位。

根据本实用新型的一个实施例，所述探针体包括：探针主体，位于所述基体的下方、且其上端通过第一弹性件与所述第一连接体相连接；和探针本体，位于所述探针主体的下方、且其上端与所述探针主体的下端相连接，所述探针本体的下端可与所述PCB相接触。

根据本实用新型的一个实施例，所述接地体包括：接地主体，位于所述基体的下方、且其上端通过所述第二弹性件与所述第二连接体相连接；和接地本体，位于所述接地主体的下方、且其上端与所述接地主体的下端相连接，所述接地本体的下端可与所述PCB相接触。

根据本实用新型的一个实施例，所述探针主体为上端和下端开口的筒状圆柱体，所述探针本体为上端开口的圆锥体，所述圆锥体的尖端朝下设置，所述第一弹性件为第一弹簧，所述第一弹簧的下端套装在所述探针主体的上端；所述接地主体为上端和下端开口的筒状圆柱体，所述接地本体为接地片，所述接地片的上端与所述接地主体下端的外侧壁相连接，所述第二弹性件为第二弹簧，所述第二弹簧的下端套装在所述接地主体的上端；所述第一连接体和第二连接体均为上端和下端开口的中空三棱柱；所述基体为下端开口的筒状圆柱体，所述定位桩设置有三个、且三个所述定位桩对称设置在所述基体下端的外侧壁上；其中，所述探针体、所述第一弹簧、第一连接体、所述接地主体、所述第二弹簧和所述第二连接体均位于所述基体围成的区域内，且所述探针体、所述第一弹簧和第一连接体位于所述接地主体、所述第二弹簧和所述第二连接体围成的区域内。

本申请的探头为嵌套式的结构，将接地主体包围在探针本体的外面，使探针本体的使用环境明显改善，更好地保证了探针本体的使用寿命。