[实用新型]下探针式接触测试装置有效
| 申请号： | 201420344407.1 | 申请日： | 2014-06-23 |
| 公开（公告）号： | CN203981725U | 公开（公告）日： | 2014-12-03 |
| 发明（设计）人： | 刘卫华 | 申请（专利权）人： | 北京盈和工控技术有限公司 |
| 主分类号： | G01R1/067 | 分类号： | G01R1/067 |
| 代理公司： | 无 | 代理人： | 无 |
| 地址： | 100037 北京市海*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本实用新型提供一种下探针式接触测试装置，以解决被测元件无法准确打在电极上的问题。本实用新型由基座、XY调整台、气缸、治具架台、治具与下探针构成，下探针安装在治具的底部，治具通过治具架台安装在气缸上，气缸安装在基座上，基座安装在XY调整台上。本实用新型通过XY调整台，可进行X向与Y向的微调，以确保被测元件可以准确打在电极上。 | ||
| 搜索关键词： | 探针 接触 测试 装置 | ||
【主权项】：
一种下探针式接触测试装置，其特征在于，由基座、XY调整台、气缸、治具架台、治具与下探针构成，所述下探针安装在所述治具的底部，所述治具通过所述治具架台安装在所述气缸上，所述气缸安装在所述基座上，所述基座安装在所述XY调整台上。
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