[实用新型]下探针式接触测试装置

说明书

技术领域

本实用新型涉及一种接触测试装置，尤其是一种下探针式接触测试装置。

背景技术

目前，由于现有下探针式接触测试装置不具备X向与Y向的调整功能，因此，难以确保下探针能够准确下降到其下方的被测电极上。

发明内容

针对上述问题中存在的不足之处，本实用新型提供一种能够确保下探针能够准确下降到其下方的被测电极上的下探针式接触测试装置。

为实现上述目的，本实用新型提供一种下探针式接触测试装置，由基座、XY调整台、气缸、治具架台、治具与下探针构成，所述下探针安装在所述治具的底部，所述治具通过所述治具架台安装在所述气缸上，所述气缸安装在所述基座上，所述基座安装在所述XY调整台上。

与现有技术相比，本实用新型具有以下优点：

本实用新型通过XY调整台，可进行X向与Y向的微调，以确保下探针能够准确下降到其下方的被测电极上。

附图说明

图1为本实用新型的结构示意图。

主要附图标记说明如下：

1-基座           2-XY调整台     3-气缸

4-治具架台       5-治具         6-下探针

具体实施方式

如图1所示，本实用新型提供一种下探针式接触测试装置，由基座、XY调整台、气缸、治具架台、治具与下探针构成，下探针安装在治具的底部，治具通过治具架台安装在气缸上，气缸安装在基座上，基座安装在XY调整台上。

本实用新型在使用时：

首先，通过XY调整台对X向与Y向的进行微调，然后，气缸在下降过程中，治具架台以及安装在其上的治具也随着气缸的移动一起移动，使探针可以下降到其下端的被测物电极上。

本实用新型通过XY调整台，可进行X向与Y向的微调，以确保下探针能够准确下降到其下方的被测电极上。

以上所述仅为本实用新型的较佳实施例，对发明而言仅仅是说明性的，而非限制性的。本专业技术人员理解，在发明权利要求所限定的精神和范围内可对其进行许多改变，修改，甚至等效，但都将落入本实用新型的保护范围内。