[实用新型]一种半导体芯片测试设备有效
| 申请号： | 201420327903.6 | 申请日： | 2014-06-19 |
| 公开（公告）号： | CN203909229U | 公开（公告）日： | 2014-10-29 |
| 发明（设计）人： | 高新华 | 申请（专利权）人： | 高新华 |
| 主分类号： | G01R31/26 | 分类号： | G01R31/26;B07C5/344 |
| 代理公司： | 北京鼎佳达知识产权代理事务所(普通合伙) 11348 | 代理人： | 侯蔚寰 |
| 地址： | 343905 江西*** | 国省代码： | 江西;36 |
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| 摘要： | 本实用新型涉半导体芯片领域，具体的说是涉及一种半导体芯片测试设备，它包括进料装置、测试装置，所述测试装置设置在进料装置的左侧，所述进料装置包括进料控制器、连续式螺杆推动装置、平台，所述进料控制器分别与所述连续式螺杆推动装置和所述平台连接，所述测试装置包括支架、测试平台、测试机构、半导体芯片分选机构、分选收料盒、测试分选仪，所述测试平台设在支架上方，所述测试机构位于所述测试平台一侧，所述测试机构下方正对与所述平台，所述半导体芯片分选机构位于所述测试机构下方，所述分选收料盒位于所述支架下方，所述测试分选仪位于所述测试装置左侧。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 半导体 芯片 测试 设备 | ||
【主权项】：
一种半导体芯片测试设备,包括进料装置、测试装置，所述测试装置设置在进料装置的左侧，其特征在于：所述进料装置包括进料控制器、连续式螺杆推动装置、平台，所述进料控制器分别与所述连续式螺杆推动装置和所述平台连接，所述测试装置包括支架、测试平台、测试机构、半导体芯片分选机构、分选收料盒、测试分选仪，所述测试平台设在支架上方，所述测试机构位于所述测试平台一侧，所述测试机构下方正对与所述平台，所述半导体芯片分选机构位于所述测试机构下方，所述分选收料盒位于所述支架下方，所述测试分选仪位于所述测试装置左侧。
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