[实用新型]芯片雪崩能量测试夹具有效

专利信息
申请号: 201420270002.8 申请日: 2014-05-23
公开(公告)号: CN203838190U 公开(公告)日: 2014-09-17
发明(设计)人: 游佩武;裘立强;王毅 申请(专利权)人: 扬州杰利半导体有限公司
主分类号: G01R1/04 分类号: G01R1/04
代理公司: 南京纵横知识产权代理有限公司 32224 代理人: 周全
地址: 225008 江苏*** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 芯片雪崩能量测试夹具。提供了一种结构简单,不需封装即可测试的芯片雪崩能量测试夹具。包括测试基板、测试铜板、导向机构、测试铜块和测试铜针,所述测试铜板设在所述测试基板上,所述导向机构设在所述测试基板上,所述导向机构包括滑轨、滑块和手柄,所述滑轨垂直设在所述测试基板上,所述滑块设在滑轨内,做垂直运动,所述手柄连接在所述滑块的一侧;所述测试铜针通过测试铜块连接在所述滑块上,所述测试铜针朝向所述测试铜板设置。本实用新型方便快捷、便于操作。
搜索关键词: 芯片 雪崩 能量 测试 夹具
【主权项】:
芯片雪崩能量测试夹具,其特征在于,包括测试基板、测试铜板、导向机构、测试铜块和测试铜针,所述测试铜板设在所述测试基板上,所述导向机构设在所述测试基板上,所述导向机构包括滑轨、滑块和手柄,所述滑轨垂直设在所述测试基板上,所述滑块设在滑轨内,做垂直运动,所述手柄连接在所述滑块的一侧;   所述测试铜针通过测试铜块连接在所述滑块上,所述测试铜针朝向所述测试铜板设置。
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