[实用新型]二极管芯片测试电路有效
| 申请号： | 201420217385.2 | 申请日： | 2014-04-30 |
| 公开（公告）号： | CN203811720U | 公开（公告）日： | 2014-09-03 |
| 发明（设计）人： | 王锐;夏群;柳虎 | 申请（专利权）人： | 成都先进功率半导体股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/00 | 分类号： | G01R31/00 |
| 代理公司： | 四川力久律师事务所 51221 | 代理人： | 王芸;熊晓果 |
| 地址： | 611731 四川省成都市高*** | 国省代码： | 四川;51 |
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| 摘要： | 本实用新型公开了一种二极管芯片测试电路，包括多个并联的测试子电路和用于为所述测试子电路供电的第一电源和第二电源，所述测试子电路、第一电源和第二电源集成在同一个PCB电路板上；每个所述测试子电路均包括用于连接一组串联的二极管芯片的两个端子，所述两个端子中的一个端子通过第一电阻电连接所述第一电源的正极，另一个端子电连接三极管的集电极，所述三极管通过第二电阻电连接所述第二电源的负极，所述三极管的基极电连接所述第一电源的负极和第二电源的正极。本实用新型的二极管芯片测试电路使得芯片测试效率大大提高。 | ||
| 搜索关键词： | 二极管 芯片 测试 电路 | ||
【主权项】：
一种二极管芯片测试电路，其特征在于，包括多个并联的测试子电路和用于为所述测试子电路供电的第一电源和第二电源，所述测试子电路、第一电源和第二电源集成在同一个PCB电路板上；其中每个所述测试子电路均包括用于连接一组串联的二极管芯片的两个端子，所述两个端子中的一个端子通过第一电阻电连接所述第一电源的正极，另一个端子电连接三极管的集电极，所述三极管通过第二电阻电连接所述第二电源的负极，所述三极管的基极电连接所述第一电源的负极和第二电源的正极。
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