[实用新型]二极管芯片测试电路

说明书

技术领域

本实用新型涉及芯片测试领域，特别涉及一种二极管芯片测试电路。

背景技术

目前对半导体二极管芯片进行测试时，通过人工连线一个个将芯片的相应引脚与测试仪器连接，再使用测试仪器对芯片的各种电性能参数进行测试记录，逐一单独测试，测试效率低下。

实用新型内容

本实用新型的目的在于克服现有技术中所存在的上述不足，提供一种测试效率高的二极管芯片测试电路。

为了实现上述发明目的，本实用新型采用的技术方案是：

一种二极管芯片测试电路，包括多个并联的测试子电路和用于为所述测试子电路供电的第一电源和第二电源，所述测试子电路、第一电源和第二电源集成在同一个PCB电路板上；其中每个所述测试子电路均包括用于连接一组串联的二极管芯片的两个端子，所述两个端子中的一个端子通过第一电阻电连接所述第一电源的正极，另一个端子电连接三极管的集电极，所述三极管通过第二电阻电连接所述第二电源的负极，所述三极管的基极电连接所述第一电源的负极和第二电源的正极。工作时，在多个并联的测试子电路的两个端子之间连接一组串联的二极管芯片，第一电源和第二电源为测试子电路供电工作，可同时测试一批二极管芯片，测试效率大大提高。

优选的，所述一组串联的二极管为7个串联的二极管。

优选的，所述二极管为整流二极管、稳压二极管或发光二极管。

优选的，所述第一电源和第二电源均为干电池或蓄电池。

优选的，所述测试子电路有7个。

与现有技术相比，本实用新型的有益效果：  

本实用新型的芯片测试电路包括多个并联的测试子电路和用于为所述测试子电路供电的第一电源和第二电源，测试子电路、第一电源和第二电源集成在同一个PCB电路板上，每个所述测试子电路均包括用于连接一组串联的二极管芯片的两个端子，工作时，多个并联的测试子电路中的两个端子连接一组测试芯片，第一电源和第二电源为测试子电路供电工作，可在同一PCB板上同时测试一批二极管芯片，测试效率大大提高。

附图说明：

图1是本实用新型实施例中的芯片测试电路图。

具体实施方式

下面结合具体实施方式对本实用新型作进一步的详细描述。但不应将此理解为本实用新型上述主题的范围仅限于以下的实施例，凡基于本实用新型内容所实现的技术均属于本实用新型的范围。

如图1所示的二极管芯片测试电路，包括多个并联的测试子电路和用于为所述测试子电路供电的第一电源U1和第二电源U2，所述测试子电路、第一电源U1和第二电源U2集成在同一个PCB电路板上（图未示）。本实施例中所述测试子电路有7个，当然可以更多，所述一组串联的二极管为7个串联的二极管，为了方便说明，图1中只示出了3个串联的二极管，具体可根据情况设定二极管芯片数量。为了便于说明，图1中也只示出了2个测试子电路，所有测试子电路均在图1中的c、d和e三点连接实现并联。优选的，所述第一电源U1和第二电源U2均为干电池或蓄电池。所述二极管为整流二极管、稳压二极管或发光二极管，也可以是其他类型的二极管芯片。其中每个所述测试子电路均包括用于连接一组串联的二极管芯片的两个端子（a、b），所述两个端子中的一个端子a通过第一电阻R1电连接所述第一电源U1的正极，另一个端子b电连接三极管的集电极，所述三极管通过第二电阻R2电连接所述第二电源U2的负极，所述三极管的基极电连接所述第一电源U1的负极和第二电源U2的正极。工作时，在多个并联的测试子电路的两个端子(a、b)之间连接一组串联的二极管芯片，第一电源U1和第二电源U2为测试子电路供电工作，可同时测试一批二极管芯片，测试效率大大提高。

上面结合附图对本实用新型的具体实施方式进行了详细说明，但本实用新型并不限制于上述实施方式，在不脱离本申请的权利要求的精神和范围情况下，本领域的技术人员可以作出各种修改或改型。