[发明专利]一种缓冲层荷电RESURF HEMT器件有效

专利信息
申请号: 201410851598.5 申请日: 2014-12-29
公开(公告)号: CN104538440A 公开(公告)日: 2015-04-22
发明(设计)人: 罗小蓉;杨超;熊佳云;魏杰;周坤;吴俊峰;张波;李肇基 申请(专利权)人: 电子科技大学
主分类号: H01L29/778 分类号: H01L29/778;H01L29/06
代理公司: 成都宏顺专利代理事务所(普通合伙) 51227 代理人: 李玉兴
地址: 611731 四川省成*** 国省代码: 四川;51
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摘要: 发明属于功率半导体技术领域,特别涉及一种缓冲层荷电RESURF HEMT器件。本发明的技术方案,主要通过在较厚的缓冲层中引入负电荷,达到提高器件击穿电压或者阈值电压的目的,且不会引入附加寄生电容,同时与在较薄的势垒层中引入电荷相比,在较厚的缓冲层中引入电荷可靠性更好,工艺容差更大。另外,本发明在现在工艺技术的基础上就可实现。本发明尤其适用于HEMT器件。
搜索关键词: 一种 缓冲 层荷电 resurf hemt 器件
【主权项】:
一种缓冲层荷电RESURF HEMT器件,包括衬底(1)、位于衬底(1)上层的缓冲层(2)、位于缓冲层(2)上层的势垒层(3)和位于势垒层(3)上层的钝化层(4),所述缓冲层(2)与势垒层(3)形成异质结;所述势垒层(3)上表面两端分别设置有源电极(6)和漏电极(7),在源电极(6)和漏电极(7)之间设置有栅电极(8);其特征在于,所述缓冲层(2)中具有第一负荷电埋层(5);所述第一负荷电埋层(5)位于栅电极(8)和漏电极(7)之间的钝化层下方。
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