[发明专利]一种倒装芯片封装散热结构及其制备方法在审

专利信息
申请号: 201410849393.3 申请日: 2014-12-30
公开(公告)号: CN104681512A 公开(公告)日: 2015-06-03
发明(设计)人: 马晓波;谢建友;于大全;庞诚 申请(专利权)人: 华天科技(西安)有限公司
主分类号: H01L23/367 分类号: H01L23/367;H01L21/56
代理公司: 代理人:
地址: 710018 陕西省西安*** 国省代码: 陕西;61
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摘要: 发明公开了一种倒装芯片封装散热结构及其制备方法,属于封装散热结构领域。本发明是将倒装芯片封装的塑封体制作出阵列槽,槽的尺寸和阵列排布可根据封装的散热需求自主设定;然后在阵列槽中制作出金属柱;最后通过蚀刻或激光钻孔等方式将塑封体削减一定高度,露出阵列排布的金属柱。这种散热结构在塑封体内植入阵列金属柱,减小了塑封体结壳热阻,利于封装散热。外露的金属柱在强迫风冷情况下不仅增加了换热表面积,并且在金属柱之间形成湍流,较传统封装的层流模式更有利于散热。
搜索关键词: 一种 倒装 芯片 封装 散热 结构 及其 制备 方法
【主权项】:
一种倒装芯片封装散热结构,其特征在于,所述结构包括基板(1)、芯片凸点(2)、倒装芯片(3)、至少一个金属柱(4)和塑封体(5);所述基板(1)通过芯片凸点(2)与倒装芯片(3)连接,塑封体(5)包围芯片凸点(2)、倒装芯片(3)和基板(1)的上表面,所述金属柱(4)位于倒装芯片(3)的顶面,金属柱(4)阵列排布,金属柱(4)埋入塑封体(5)内,金属柱(4)顶面高于塑封体(5)顶面。
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