[发明专利]正偏压温度不稳定性的恢复装置和恢复方法有效

专利信息
申请号: 201410841394.3 申请日: 2014-12-25
公开(公告)号: CN105790741B 公开(公告)日: 2018-12-21
发明(设计)人: 冯军宏 申请(专利权)人: 中芯国际集成电路制造(上海)有限公司
主分类号: H03K17/14 分类号: H03K17/14;H03K17/687
代理公司: 北京市磐华律师事务所 11336 代理人: 董巍;高伟
地址: 201203 *** 国省代码: 上海;31
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摘要: 发明提供一种正偏压温度不稳定性的恢复装置和恢复方法,所述恢复装置包括目标NMOS管和恢复单元。其中,所述恢复单元在所述目标NMOS管处于工作状态时闲置,并且在所述目标NMOS管处于闲置状态时为所述目标NMOS管的源极和漏极加正向偏压。本发明所提供的正偏压温度不稳定性的恢复装置可以在不影响NMOS管正常工作的情况下进行正偏压温度不稳定性的恢复,并且可以大大增强NMOS管的正偏压温度不稳定性的恢复效果。
搜索关键词: 偏压 温度 不稳定性 恢复 装置 方法
【主权项】:
1.一种正偏压温度不稳定性的恢复装置,其特征在于,所述恢复装置包括目标NMOS管和恢复单元,其中,所述恢复单元在所述目标NMOS管处于工作状态时闲置,并且在所述目标NMOS管处于闲置状态时为所述目标NMOS管的源极和漏极加正向偏压,其中,所述恢复单元包括第一PMOS管、第二PMOS管、第一反相器以及第二反相器,其中,所述第一PMOS管的栅极连接输入信号、源极连接第一供应电压、漏极连接所述第一反相器的输入端;所述第二PMOS管的栅极连接所述输入信号、源极连接第二供应电压、漏极连接所述第二反相器的输入端;所述目标NMOS管的栅极连接所述输入信号、漏极连接所述第一反相器的输出端、源极连接所述第二反相器的输出端。
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