[发明专利]检测装置在审

专利信息
申请号: 201410833797.3 申请日: 2014-12-29
公开(公告)号: CN104977152A 公开(公告)日: 2015-10-14
发明(设计)人: 陈銮英;郑陈嵚;陈于堂;陈奕均;彭耀祈;林晃岩 申请(专利权)人: 财团法人工业技术研究院
主分类号: G01M11/02 分类号: G01M11/02
代理公司: 中科专利商标代理有限责任公司 11021 代理人: 宋焰琴
地址: 中国台湾新竹*** 国省代码: 中国台湾;71
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摘要: 发明公开了一种检测装置,包括一均光元件、多个检测电极及一感光元件。均光元件具有一腔室,腔室具有一入光口及一出光口,入光口小于出光口。形成腔室的一内表面定义有一反射区及一散射区。内表面具有一中心轴及一最短曲线。最短曲线以中心轴为旋转轴旋转360度而形成内表面。最短曲线上的各点位置至一基准点的距离为r。最短曲线上的各点位置至基准点的连线与一基线的夹角为最短曲线与基线及基准点之间的关系符合的条件。检测电极设置于入光口,感光元件设置于出光口。
搜索关键词: 检测 装置
【主权项】:
一种检测装置,用以测量一待测光源,该检测装置包括:一均光元件,具有一腔室,该腔室具有一入光口及一出光口,该入光口小于该出光口,形成该腔室的一内表面定义有至少一反射区及至少一散射区,该内表面具有一中心轴,该内表面于该入光口的一入光端缘具有一第一端点,该内表面于该出光口的一出光端缘具有一第二端点,该内表面从该第一端点延伸至该第二端点具有一最短曲线,该最短曲线以该中心轴为旋转轴旋转360度而形成该内表面,该最短曲线具有一基线及位于该基线一端的一基准点,该最短曲线上的各点位置至该基准点的距离为r,该最短曲线上的各点位置至该基准点的连线与该基线的夹角为该第一端点至该基准点的连线与该基线的夹角为该第二端点至该基准点的连线与该基线的夹角为且该最短曲线与该基线及该基准点之间的关系符合以下条件:以及其中,该最短曲线上的各点位置远离该基准点及该基线的程度为f,该基线所在的一直线与该中心轴的夹角为θr,该基准点至该中心轴的垂直距离为y0,该基准点至该入光端缘所在平面的垂直距离为z0,该第一端点至该中心轴的垂直距离为Rin,该第二端点至该中心轴的垂直距离为Rout,该入光端缘至该出光端缘的最短距离为L;多个检测电极,设置于该入光口,且用以供电至该待测光源;以及一感光元件,设置于该出光口。
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