[发明专利]检测装置

权利要求书

1.一种检测装置，用以测量一待测光源，该检测装置包括：

一均光元件，具有一腔室，该腔室具有一入光口及一出光口，该入光口小于该出光口，形成该腔室的一内表面定义有至少一反射区及至少一散射区，该内表面具有一中心轴，该内表面于该入光口的一入光端缘具有一第一端点，该内表面于该出光口的一出光端缘具有一第二端点，该内表面从该第一端点延伸至该第二端点具有一最短曲线，该最短曲线以该中心轴为旋转轴旋转360度而形成该内表面，该最短曲线具有一基线及位于该基线一端的一基准点，该最短曲线上的各点位置至该基准点的距离为r，该最短曲线上的各点位置至该基准点的连线与该基线的夹角为该第一端点至该基准点的连线与该基线的夹角为该第二端点至该基准点的连线与该基线的夹角为且该最短曲线与该基线及该基准点之间的关系符合以下条件：

以及

其中，该最短曲线上的各点位置远离该基准点及该基线的程度为f，该基线所在的一直线与该中心轴的夹角为θr，该基准点至该中心轴的垂直距离为y0，该基准点至该入光端缘所在平面的垂直距离为z0，该第一端点至该中心轴的垂直距离为Rin，该第二端点至该中心轴的垂直距离为Rout，该入光端缘至该出光端缘的最短距离为L；

多个检测电极，设置于该入光口，且用以供电至该待测光源；以及

一感光元件，设置于该出光口。

2.如权利要求1所述的检测装置，还包括一基板，设置于该均光元件及该检测电极之间。

3.如权利要求2所述的检测装置，其中该基板具有一贯通孔，该贯通孔对应于该入光口。

4.如权利要求3所述的检测装置，还包括一反射层，设置于该贯通孔的侧壁面。

5.如权利要求2所述的检测装置，其中该基板沿该中心轴方向的厚度小于0.3mm。

6.如权利要求2所述的检测装置，其中该待测光源沿垂直于该中心轴方向的宽度为Wy，该些检测电极沿该中心轴方向的最大厚度为T1，该基板沿该中心轴方向的厚度为T2，欲检测该待测光源所发出光线的一范围的边缘至该中心轴的角度为θ1，该待测光源沿该范围的边缘所发出的光线入射于该基板时的折射方向至该中心轴的角度为θ2，且符合以下条件：

2Rin＝Wy+2(T1tanθ1+T2tanθ2)。

7.如权利要求1所述的检测装置，其中该些检测电极为透明的。

8.如权利要求1所述的检测装置，其中各该检测电极具有一连接端及一接触端，各该连接端与该均光元件相连，各该接触端比各该连接端接近于该中心轴，各该接触端用以与该待测光源电性连接，各该连接端沿该中心轴的厚度小于各该接触端沿该中心轴的厚度。

9.如权利要求1所述的检测装置，其中该至少一散射区相邻于该出光口。

10.如权利要求1所述的检测装置，其中该至少一反射区相邻于该入光口。

11.如权利要求1所述的检测装置，其中该至少一散射区占该内表面的比例60％以上且小于100％。

12.如权利要求1所述的检测装置，其中该至少一散射区的数量为多个，该至少一反射区的数量为多个，该些散射区及该些反射区沿该中心轴交错排列。

13.如权利要求1所述的检测装置，其中该基准点位于该中心轴时y0为零，该基准点位于该中心轴及该最短曲线之间时y0为正，该中心轴位于该基准点及该最短曲线之间时y0为负，该基准点位于该入光端缘时z0为零，该入光端缘位于该基准点及该出光端缘之间时z0为正，该基准点位于该入光端缘及该出光端缘之间时z0为负，该基线平行于该中心轴时θr为零，从该入光端缘朝向该出光端缘具有一方向，该基线所在的该直线与该中心轴具有一相交点时，自该相交点沿该方向延伸的范围中，该基线所在的该直线位于该中心轴及该最短曲线之间时θr为正，该中心轴位于该基线所在的该直线及该最短曲线之间时θr为负。

14.如权利要求13所述的检测装置，其中z0为零，y0为-Rin，θr为

15.如权利要求14所述的检测装置，其中该最短曲线于该出光端缘的切线与该中心轴平行。