[发明专利]深沟槽多层光刻覆盖结构及其光刻覆盖方法有效
| 申请号: | 201410827929.1 | 申请日: | 2014-12-26 |
| 公开(公告)号: | CN104465338A | 公开(公告)日: | 2015-03-25 |
| 发明(设计)人: | 吴宗杰;夏杰宇 | 申请(专利权)人: | 力特半导体(无锡)有限公司 |
| 主分类号: | H01L21/027 | 分类号: | H01L21/027 |
| 代理公司: | 无锡华源专利事务所(普通合伙) 32228 | 代理人: | 林弘毅;聂汉钦 |
| 地址: | 214028 江苏省*** | 国省代码: | 江苏;32 |
| 权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
| 摘要: | 本发明提供一种深沟槽多层光刻覆盖结构及其光刻覆盖方法,解决使用光刻胶对深沟槽进行覆盖时,台阶覆盖不良以及显影不良的问题。本发明硅片经过沟槽刻蚀后,形成深度大于90um的沟槽,采用多次覆盖光刻胶对沟槽底部进行填充,确保在进行多次涂光刻胶后在沟槽和硅片平面结合的台阶处形成覆盖。并且由于第一次显影后留下的光刻胶在芯片表面的宽度宽于后面光刻留下的光刻胶宽度,将显影不良控制在第一层光刻胶的上面,保证在最后沟槽外侧的光刻胶图案不会产生缺失或残留。 | ||
| 搜索关键词: | 深沟 多层 光刻 覆盖 结构 及其 方法 | ||
【主权项】:
一种深沟槽多层光刻覆盖结构,其特征在于,包括:一硅片,其上形成有深度大于90um的弧形沟槽;一底层光刻胶层,覆盖在所述弧形沟槽上方,以及所述弧形沟槽两侧的硅片平面上方;一上层光刻胶层,覆盖在所述底层光刻胶层上方;其中,所述底层光刻胶层在硅片表面的光刻胶宽度大于所述上层光刻胶层在硅片表面的光刻胶宽度。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
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H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
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