[发明专利]基于SIFT特征点的SAR图像变化检测方法

摘要

本发明公开了一种基于SIFT特征点的SAR图像变化检测方法，主要解决现有检测方法受“斑点”噪声影响较大的问题。其实现过程是(1)将已配准且进行辐射校正和几何校正的两幅待检测SAR图像进行归一化处理；(2)利用归一化后的待检测的两幅图获得差异图；(3)利用尺度不变特征变换方法提取差异图中的SIFT特征点；(4)将SIFT特征点作为种子点进行区域生长，得到变化图。本发明具有对“斑点”噪声鲁棒性强的优点，可用于低性噪比下的SAR图像变化检测。

主权项

一种SAR图像变化检测方法，包括如下步骤：(1)对已进行配准、几何校正、辐射校正的两幅待检测的SAR参考图像X和测试图像Y数据进行归一化，得到归一化后的参考图像X'和测试图像Y'；(2)将归一化后的参考图像X'和测试图像Y'所对应像素值相除，取对数的绝对值，获得差异图D，获取差异图D的表达式为：D=|log10(X′+2Y′+2)|;]]>(3)用尺度不变特征变换SIFT方法提取差异图D中的特征点；(4)在归一化后的测试图像Y'中，以步骤(3)中提取的特征点为种子点进行区域生长，得到分割结果：(4a)生成一个与测试图像Y同等大小的初始矩阵mask和生长矩阵mask'，以及更新矩阵mask1，将初始矩阵mask中每个特征点对应位置的值标记为1，剩余位置的值均标记为0，将生长矩阵mask'和更新矩阵mask1的值全部标记为0；(4b)在测试图像Y中，将在初始矩阵mask中对应位置被标记为1的像素值与其相邻8个点像素值相比较，如果像素值相差不超过门限T＝0.05599，则在生长矩阵mask'中将相邻像素对应位置的值标记为1，否则不进行任何操作；(4c)对初始矩阵mask中所有被标记为1的位置进行(4b)的操作；(4d)将初始矩阵mask与生长矩阵mask'相加，并将相加后的结果存入更新矩阵mask1中；(4e)将更新矩阵mask1中所有的非零值置为1；(4f)判断初始矩阵mask与更新矩阵mask1是否相等，若不相等，则将生长矩阵mask1的值赋予初始矩阵mask矩阵，并将生长矩阵mask'的值全部置0，重复(4b)到(4e)的操作，否则，生长结束，更新矩阵mask1即为分割结果。