[发明专利]基于SIFT特征点的SAR图像变化检测方法有效
申请号: | 201410818305.3 | 申请日: | 2014-12-25 |
公开(公告)号: | CN104517124B | 公开(公告)日: | 2018-03-20 |
发明(设计)人: | 杜兰;王燕;王斐;王兆成 | 申请(专利权)人: | 西安电子科技大学 |
主分类号: | G06K9/62 | 分类号: | G06K9/62 |
代理公司: | 陕西电子工业专利中心61205 | 代理人: | 王品华,朱卫星 |
地址: | 710071*** | 国省代码: | 陕西;61 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 基于 sift 特征 sar 图像 变化 检测 方法 | ||
技术领域
本发明属于雷达技术领域,涉及SAR图像检测方法,可用于对不同时段同一场景的变化区域的检测。
背景技术
雷达成像技术是20世纪50年代发展起来的,在此后的60年里得到了突飞猛进的发展,目前,已经在军事、农林、地质、海洋、灾害、绘测等诸多方面得到广泛的应用。
SAR作为一种主动微波传感器,具有全天候、全天时、分辨率高以及穿透能力强等特点,在突发事件、自然灾害的检测和评估等方面具有独特优势,利用SAR图像进行变化检测具有重要意义。目前,SAR图像变化检测已经在多个方面取得广泛的应用,如土地分析、森林采伐监测、灾情估计、军事侦察、打击效果评估等。
SAR图像变化检测分为监督和非监督两大类。其中,非监督变化检测不需要先验变化信息的支持,可直接从配准好的前后两个时刻SAR图像获取变化信息,这种检测方法不仅降低人为误差的影响,同时也符合实际中先验变化信息缺失的现实情况,因此非监督变化检测成为国内外研究的重点。SAR图像变化检测的流程可概括为三个步骤,首先对待检测的两幅图像进行图像配准、斑噪滤波、辐射校正、几何校正等预处理,然后比较两幅图像获得差异图,最后对差异图进行分割得到最终的检测结果。
现有文献中提出很多非监督SAR图像变化检测方法,例如基于统计模型变化检测、基于聚类变化检测方法等。Yakoub Bazi等人在文献《An Unsupervised Approach Based on the Generalized Gaussian Model to Automatic Change Detection in Multitemporal SAR Images》中针对高斯分布模型和广义高斯分布模型,利用Kittler-Illingworth算法确定门限,对差异图进行分割的检测方法;公茂果等人在《Change Detection in Synthetic Aperture Radar Images based on Image Fusion and Fuzzy Clustering》中提出利用模糊C均值以及改进的模糊C均值方法对融合后的差异图进行聚类,区分变化区域和非变化区域,得到检测结果。在现有的SAR图像变化检测方法中,SAR图像特有的“斑点”噪声对检测性能有很大的影响。例如基于统计模型的检测方法,进行检测之前必须对其进行滤波,否则检测无法进行,此外,该方法一旦模型失配,其检测性能将急剧下降;又如基于聚类的检测方法,当噪声较强时,其检测性能会受到极大的影响。
发明内容
本发明的目的在于针对上述已有方法的不足,提出一种基于SIFT特征点的SAR图像变化检测方法,以提高对变化区域的检测率,尤其是在低性噪比下的检测率。
本发明是这样实现的:
一、技术思路
变化检测的关键在于找到一个域或特征,在这个域或特征下,变化区域和未变化区域具有可分性。本发明中利用尺度不变特征变换SIFT提取差异图中的特征点,再联合使用图像分割后的区域信息,得到变化区域。SIFT特征点可以反映图像的局部特征,对图像旋转、尺度放缩和亮度变化具有不变性,对视角变化、仿射变换以及噪声也保持一定程度的稳定性。本发明利用SIFT特征点对噪声具有的稳定性的特性,联合图像分割对边界的精细化处理,使检测结果不仅对噪声具有鲁棒性,还有更精确的边界。
二.技术方案
本发明的实现步骤包括如下:
(1)对已进行配准、几何校正、辐射校正的两幅待检测的SAR参考图像X和测试图像Y数据进行归一化,得到归一化后的参考图像X'和测试图像Y';
(2)将归一化后的参考图像X'和测试图像Y'所对应像素值相除,取对数的绝对值,获得差异图D;
(3)用尺度不变特征变换SIFT方法提取差异图D中的尺度不变特征变换特征点;
(4)在归一化后的测试图像Y'中,以步骤(3)中提取的特征点为种子点进行区域生长,得到分割结果:
(4a)生成一个与测试图像Y同等大小的初始矩阵mask和生长矩阵mask',以及更新矩阵mask1,将初始矩阵mask中每个特征点对应位置的值标记为1,剩余位置的值均标记为0,将生长矩阵mask'和更新矩阵mask1的值全部标记为0;
(4b)在测试图像Y中,将在初始矩阵mask中对应位置被标记为1的像素值与其相邻8个点像素值相比较,如果像素值相差不超过门限T=0.05599,则在生长矩阵mask'中将相邻像素对应位置的值标记为1,否则不进行任何操作;
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