[发明专利]阵列基板、液晶显示面板及液晶显示面板的检测方法有效

专利信息
申请号: 201410785475.6 申请日: 2015-08-04
公开(公告)号: CN104503158A 公开(公告)日: 2015-07-29
发明(设计)人: 陈政鸿;王醉 申请(专利权)人: 深圳市华星光电技术有限公司
主分类号: G02F1/1343 分类号: G02F1/1343;G02F1/13
代理公司: 深圳翼盛智成知识产权事务所(普通合伙) 44300 代理人: 黄威
地址: 518132 广东*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 发明提供一种阵列基板、液晶显示面板及液晶显示面板的检测方法。该阵列基板包括基板衬底、公共电极、绝缘层、像素透明电极以及共享电容透明电极;其中像素透明电极和共享电容透明电极之间具有一隔离区域,公共电极延伸至隔离区域,并通过绝缘层上的沟槽裸露在隔离区域的表面。本发明还提供一种液晶显示面板及液晶显示面板的检测方法。本发明可很好的检测由于阵列基板表面的ITO残留导致的产品不良。
搜索关键词: 阵列 液晶显示 面板 检测 方法
【主权项】:
一种阵列基板,其特征在于,包括:基板衬底;公共电极,设置在所述基板衬底上,用于提供公共信号;绝缘层,设置在所述公共电极上,用于隔离所述公共电极与共享电容透明电极;像素透明电极,设置在所述绝缘层上,用于形成液晶电容;以及共享电容透明电极,设置在所述绝缘层上,用于与所述公共电极形成电荷共享电容;其中所述像素透明电极和所述共享电容透明电极之间具有一隔离区域,所述公共电极延伸至所述隔离区域,并通过所述绝缘层上的沟槽裸露在所述隔离区域的表面。
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