[发明专利]阵列基板、液晶显示面板及液晶显示面板的检测方法

说明书

技术领域

本发明涉及液晶显示领域，特别是涉及一种阵列基板、液晶显示面板及液晶显示面板的检测方法。

背景技术

随着社会的发展，液晶显示装置已逐渐成为越来越重要的主流显示装置。为了改善垂直取向型液晶显示装置在大视角出现的色偏现象，会采用电荷分配(Charge Sharing)的像素设计，即像素分为主像素(Main Pixel)和次像素(Sub Pixel)两个区域。

请参照图1，图1为现有的液晶显示面板的电路示意图。该液晶显示面板10包括数据线11、主扫描线12、次扫描线13、公共线16、设置有主液晶电容141、主存储电容142以及第一晶体管143的主像素区域14以及设置有次液晶电容151、次存储电容152、电荷共享电容153、第二晶体管154以及第三晶体管155的次像素区域15。

该液晶显示面板10正常显示时，主扫描线12输入高电平，第一晶体管143和第二晶体管154导通，次扫描线13输入低电平，第三晶体管155断开，这时主液晶电容141、主存储电容142、次液晶电容151以及次存储电容152充电到相同的电位。随后主扫描线12输入低电平，第一晶体管143和第二晶体管154断开，次扫描线12输入高电平，第三晶体管155导通，电荷共享电容153将次存储电容152和次液晶电容151的电位拉低，使得次液晶电容151和次存储电容152的电位低于主液晶电容141和主存储电容142的电位。这样使得主像素区域14和次像素区域15的液晶分子的转向分布不同，主像素区域14和次像素区域15在相同信号驱动下的显示亮度不同，实现了液晶显示面板10的大视角显示。

请参照图2A和图2B，图2A为现有的液晶显示面板的阵列基板的结构示意图。图2B为沿图2A的A-A’截面线的截面图。其中电荷共享电容153有共享电容透明电极21、绝缘层22以及公共电极23构成。液晶电容(主液晶电容141和次液晶电容151)由像素透明电极24和对盒基板上的透明电极构成。由于该阵列基板在制作过程中，可能会在表面残留透明电极的材料(ITO等)，如该残留的ITO如在共享电容透明电极21和像素透明电极24之间，可能会导致液晶电容充电时，同时给电荷共享电容153也进行充电操作，使得电荷分配的像素结构失效。

现有技术在进行液晶显示面板的检测时，无法对上述不良进行检测。

故，有必要提供一种阵列基板、液晶显示面板及液晶显示面板的检测方法，以解决现有技术所存在的问题。

发明内容

本发明的目的在于提供一种可很好的检测由阵列基板表面的ITO残留导致的产品不良的阵列基板、液晶显示面板及液晶显示面板的检测方法；以解决现有的阵列基板、液晶显示面板及液晶显示面板的检测方法无法检测阵列基板表面的ITO残留导致的产品不良的技术问题。

为解决上述问题，本发明提供的技术方案如下：

本发明实施例提供一种阵列基板，其包括：

基板衬底；

公共电极，设置在所述基板衬底上，用于提供公共信号；

绝缘层，设置在所述公共电极上，用于隔离所述公共电极与共享电容透明电极；

像素透明电极，设置在所述绝缘层上，用于形成液晶电容；以及

共享电容透明电极，设置在所述绝缘层上，用于与所述公共电极形成电荷共享电容；

其中所述像素透明电极和所述共享电容透明电极之间具有一隔离区域，所述公共电极延伸至所述隔离区域，并通过所述绝缘层上的沟槽裸露在所述隔离区域的表面。

在本发明所述的阵列基板中，所述沟槽的长度约等于所述隔离区域的长度。

在本发明所述的阵列基板中，所述绝缘层上设置有多条用于裸露所述公共电极的沟槽。

在本发明所述的阵列基板中，所述阵列基板还包括数据线、主扫描线、次扫描线、第一晶体管、第二晶体管以及第三晶体管，所述像素透明电极包括主像素透明电极和次像素透明电极；

所述数据线分别与所述第一晶体管的源极和所述第二晶体管的源极连接，所述主像素透明电极分别与所述第一晶体管的漏极和所述第二晶体管的漏极连接，所述次像素透明电极分别与所述第一晶体管的漏极和所述第二晶体管的漏极连接；所述主扫描线分别与所述第一晶体管的栅极和所述第二晶体管的栅极连接；所述次扫描线分别与所述第三晶体管的栅极连接，所述第三晶体管的源极与所述次像素透明电极连接，所述第三晶体管的漏极与所述共享电容透明电极连接。

本发明还提供一种液晶显示面板，其包括阵列基板、对盒基板以及设置在所述阵列基板和所述对盒基板之间的液晶层；其中所述阵列基板包括：

基板衬底；