[发明专利]辐射剂量空间分布测量用探测器矩阵相对响应关系的检测方法有效
| 申请号： | 201410771536.3 | 申请日： | 2014-12-12 |
| 公开（公告）号： | CN104502948A | 公开（公告）日： | 2015-04-08 |
| 发明（设计）人： | 张辉;张彦立;龚晓明;夏渲 | 申请（专利权）人： | 中国计量科学研究院 |
| 主分类号： | G01T7/00 | 分类号： | G01T7/00 |
| 代理公司： | 北京轻创知识产权代理有限公司 11212 | 代理人： | 杨立 |
| 地址： | 100029 *** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种辐射剂量空间分布测量用探测器矩阵的相对响应关系检测方法,包括以下步骤：步骤(1)射束主轴沿线矩阵中心法线从正面穿过线矩阵中心，该位置作为初始位置，待出束条件稳定后，采集一组辐射场的测量数据，记录每个探测元件初始位置的测量数据；步骤(2)整体移动探测器矩阵，使得相邻两支探测器依次在辐射野的相同位置接受同样的辐射，并记录移动后每个探测元件的测量数据；步骤(3)经过步骤(1)和步骤(2)后，在每个探测元件对应的位置分别可以获得两个相邻探测元件的测量结果，采用递归算法，计算探测元件之间的相对响应关系。该方法简便易行，对于测量所用的辐射场无特殊要求，测量过程步骤少，评价数据可靠。 | ||
| 搜索关键词： | 辐射 剂量 空间 分布 测量 探测器 矩阵 相对 响应 关系 检测 方法 | ||
【主权项】：
一种辐射剂量空间分布测量用探测器矩阵的相对响应关系检测方法，其特征在于，包括以下步骤：步骤(1)射束主轴沿线矩阵中心法线从正面穿过线矩阵中心，该位置作为初始位置，待出束条件稳定后，采集一组辐射场的测量数据，记录每个探测元件初始位置的测量数据；步骤(2)整体移动探测器矩阵，使得相邻两支探测器依次在辐射野的相同位置接受同样的辐射，并记录移动后每个探测元件的测量数据；步骤(3)经过步骤(1)和步骤(2)后，在每个探测元件对应的位置分别可以获得两个相邻探测元件的测量结果，采用递归算法，计算探测元件之间的相对响应关系。
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