[发明专利]辐射剂量空间分布测量用探测器矩阵相对响应关系的检测方法有效
| 申请号: | 201410771536.3 | 申请日: | 2014-12-12 |
| 公开(公告)号: | CN104502948A | 公开(公告)日: | 2015-04-08 |
| 发明(设计)人: | 张辉;张彦立;龚晓明;夏渲 | 申请(专利权)人: | 中国计量科学研究院 |
| 主分类号: | G01T7/00 | 分类号: | G01T7/00 |
| 代理公司: | 北京轻创知识产权代理有限公司 11212 | 代理人: | 杨立 |
| 地址: | 100029 *** | 国省代码: | 北京;11 |
| 权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 辐射 剂量 空间 分布 测量 探测器 矩阵 相对 响应 关系 检测 方法 | ||
技术领域
本发明涉及一种辐射剂量空间分布测量用探测器矩阵相对响应关系的检测方法,放射治疗中辐射剂量的空间分布测量和剂量验证,以及其它测量辐射剂量空间分布的领域。
背景技术
探测器矩阵是一种用于测量辐射剂量空间分布的设备,该设备的探测单元由多个探测器按照一定规则排列,组成一维或二维探测器阵列。目前还没有有效评价组成探测器矩阵的探测器相对响应关系的方法,解决探测单元之间响应差异不确定对空间剂量分布测量结果的影响。
发明内容
本发明所要解决的技术问题是提供一种辐射剂量空间分布测量用探测器矩阵相对响应关系的检测方法,克服现有探测器矩阵中探测单元之间可能存在响应差异不确定导致对空间剂量分布测量结果影响的缺陷。
本发明解决上述技术问题的技术方案如下:一种辐射剂量空间分布测量用探测器矩阵相对响应关系的检测方法,包括以下步骤:
步骤(1)射束主轴沿线矩阵中心法线从正面穿过线矩阵中心,该位置作为初始位置,待出束条件稳定后,采集一组辐射场的测量数据,记录每个探测元件初始位置的测量数据;
步骤(2)整体移动探测器矩阵,使得相邻两支探测器依次在辐射野的相同位置接受同样的辐射,并记录移动后每个探测元件的测量数据;
步骤(3)经过步骤(1)和步骤(2)后,在每个探测元件对应的位置分别可以获得两个相邻探测元件的测量结果,采用递归算法,计算探测元件之间的相对响应关系。
在上述技术方案的基础上,本发明还可以做如下改进。
本发明如上所述一种辐射剂量空间分布测量用探测器矩阵相对响应关系的检测方法,所述探测器矩阵为一维排列的探测元件,步骤(2)整体移动探测器矩阵是将一维排列的探测元件整体向一侧或另一侧移动相邻两个探测单元的中心距离。
本发明如上所述一种辐射剂量空间分布测量用探测器矩阵相对响应关系的检测方法,所述探测器矩阵为二维排列的探测元件,步骤(2)所述整体移动探测器矩阵是在初始位置的基础上先将二维排列的探测元件整体向一侧或另一侧移动相邻两个探测单元的中心距离,记录移动后每个探测元件的测量数据;再在初始位置的基础上将二维排列的的探测元件整体向上或向下移动相邻两个探测单元的中心距离,记录移动后每个探测元件的测量数据。
本发明的有益效果是:本方法简便易行,对于测量所用的辐射场无特殊要求,测量过程步骤少,数据处理无需复杂计算,评价数据可靠,适用一维和二维探测器矩阵。
附图说明
图1为本发明一种辐射剂量空间分布测量用探测器矩阵相对响应关系的检测方法其中一种一维矩阵的实施方式的布置示意图;
图2为本发明一种辐射剂量空间分布测量用探测器矩阵相对响应关系的检测方法其中一种二维矩阵的实施方式的布置示意图;
图3为本发明一种辐射剂量空间分布测量用探测器矩阵相对响应关系的检测方法的一种一维矩阵的每一个探测器响应的相对关系的计算过程示意图;
图4为本发明一种辐射剂量空间分布测量用探测器矩阵相对响应关系的检测方法对德国IBA公司生产的MatriXX Evolution型探测器矩阵的相对响应关系在Co-60γ射线辐射场中进行了评价探测器矩阵一致性的评价结果示意图。
附图中,各标号所代表的部件列表如下:
1、初始辐照位置,2、向右侧或X轴方向移动后的位置,3、射线束,4,y轴方向移动后的位置。
具体实施方式
以下结合附图对本发明的原理和特征进行描述,所举实例只用于解释本发明,并非用于限定本发明的范围。
如图1所示一维矩阵测量方法,一维矩阵响应相对响应关系的测量过程分为两步,其中方块代表一维矩阵初始位置,方块中的三角形代表一维矩阵平移后的位置;测量时具体的操作步骤是:第一步:将被测探测器矩阵放置于稳定的辐射场中,该位置作为初始位置1,待被测探测器矩阵充分预热稳定后,采集一组辐射场的测量数据,记录每个探测元件初始位置的测量数据;
第二步:以初始位置为起点,整体移动探测器矩阵,移动距离等于相邻探测器的间距,以向右移动为例,将左边第一个探测元件移至第一步中左边第二个探测元件的位置,如图1所示移动后的位置2,其它条件不变,再采集一组辐射场的测量数据。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国计量科学研究院,未经中国计量科学研究院许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201410771536.3/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。





