[发明专利]一种基于平板式电容检测的微梁断裂强度的测试结构有效

专利信息
申请号: 201410768361.0 申请日: 2014-12-12
公开(公告)号: CN104458417A 公开(公告)日: 2015-03-25
发明(设计)人: 唐洁影;唐丹;王磊 申请(专利权)人: 东南大学
主分类号: G01N3/08 分类号: G01N3/08;G01N3/06
代理公司: 南京瑞弘专利商标事务所(普通合伙) 32249 代理人: 杨晓玲
地址: 210033 江苏省南京*** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 发明是一种基于平板式电容检测的微梁断裂强度的测试结构,包括衬底、置于衬底之上的测量结构和参考结构。测量结构由下极板、锚区、悬置在衬底上方的上极板和两根热臂梁、以及被测微梁构成;两根热臂梁垂直连接在上极板两侧,热臂梁的另一端固定在锚区侧面;被测微梁平行并介于两热臂梁之间,一端与上极板一侧面的中部相连,另一端固定在一个锚区侧面;下极板初始时紧临上极板下方区域,但不为上级板所遮蔽。参考结构除了不带有被测梁,其余部分与测量结构完全相同。测试中,在测量结构和参考结构上施加完全相同的电压,当两结构中的热臂梁通电发生热膨胀时,上极板向前方移动并部分遮挡住下极板,上、下极板之间的电容随上极板的移动而变化。
搜索关键词: 一种 基于 平板 电容 检测 断裂强度 测试 结构
【主权项】:
一种基于平板式电容检测的微梁断裂强度的测试结构,其特征在于该结构包括衬底(1)、置于衬底(1)之上的测量结构(2)和参考结构(3);其中测量结构(2)由下极板(201)、上极板(202)、两根热臂梁(203)、被测微梁(205)、第一锚区(204)和第二锚区(206)构成;参考结构(3)除了不带有被测微梁,其余部分与测量结构(2)完全相同;所述下极板(201)沉积于衬底(1)的上表面,下极板(201)上生长有介质薄层;所述第一锚区(204)、第二锚区(206)置于衬底(1)上;所述两根热臂梁(203)与上极板(202)垂直相连,另一端固定在锚区(204)侧面;所述被测微梁(205)平行并介于两热臂梁(203)之间,一端与上极板(202)一侧面的中部相连,另一端固定在锚区(205)的一个侧面;所述上极板(202)、两根热臂梁(203)以及被测悬臂梁(205)位于同一平面并悬置在衬底(1)上方,与衬底(1)所在平面平行。所述下极板(201)初始时紧临上极板(202)正下方区域,但不为上级板(202)所遮挡;
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