[发明专利]一种用于高速动态存储器的相位调制电路及相位调制方法

摘要

本发明涉及一种用于高速动态存储器的相位调制电路，其包括第一可调延时链、鉴相器、连接DQS对应的第一可调延时链的基于延时链的90度相移装置以及分别连接基于延时链的90度相移装置和对应DQ的第一可调延时链的数据采样寄存器；本发明还涉及一种相位调制的方法，方法包括初始化动态存储器内容，向动态存储器写入测试样本并将相位调制电路内各延时链设置为0；调整第一可调延时链使DQS/DQ组内各信号对齐；将DQS信号相移90度。本发明通过延时和相位校准可实现提高DQS的相位延迟稳定性和精确度，使得QDS信号精准的落在有效数据窗中央，从而保证数据信号稳定、精确的传输，增强数据的抗干扰性。

主权项

一种使用用于高速动态存储器的相位调制电路进行相位调制的方法，所述相位调制电路(150)包含在存储器控制电路(130)中，所述存储器控制电路(130)包含在含动态存储器接口的电路(120)中；所述存储器控制电路(130)通过系统时钟(112)、数据选通信号DQS(116)和数据信号DQ(114)与存储器装置(110)进行数据通信；所述相位调制电路(150)包括接收数据选通信号DQS和数据信号DQ的多个第一可调延时链(200)、分别接收对应数据选通信号DQS的第一可调延时链(200)和对应数据信号DQ的第一可调延时链(200)的输出的多个鉴相器(250)、连接对应数据选通信号DQS的第一可调延时链(200)的基于延时链的90度相移装置(260)以及分别连接基于延时链的90度相移装置(260)和对应数据信号DQ的第一可调延时链(200)的数据采样寄存器(270)；所述方法包括：S410：初始化动态存储器内容，向动态存储器写入测试样本并将相位调制电路内各延时链设置为0；S420：调整第一可调延时链(200)使数据选通信号DQS/数据信号DQ组内各信号对齐；S430：将数据选通信号DQS相移90度；其中步骤S420包括：S510：将最滞后信号初始化为数据选通信号DQS，并从存储器读取测试样本，使其中一个数据信号DQ周期输出同频最慢时钟信号；S520：根据鉴相器(250)输出结果判断数据选通信号DQS是否比任意数据信号DQ都滞后：如果是，则直接进入S560，判断所需测试样本是否均已读取完毕；如果不是，则进入S530，调整数据选通信号DQS对应的第一可调延时链(200)，使数据选通信号DQS与S510中的其中一个数据信号DQ相位锁定；在S540，判断在S530中所得延时是否大于已记录的最大延时：如果是，则进入步骤550，更新最大延时为S530所得值，并标识最滞后数据信号DQ，然后进入S560；如果不是，则直接进入S560，判断所需测试样本是否均已读取完成：如果不是，则进入S570，更改另一测试样本，使另一DQ周期输出同频最慢信号，并重复执行S520；如果是，则进入S580，根据记录的最大延时标识最滞后信号。