[发明专利]半导体元件测试用分选机有效

专利信息
申请号: 201410691161.X 申请日: 2014-11-26
公开(公告)号: CN104785450A 公开(公告)日: 2015-07-22
发明(设计)人: 权宁镐;李孝玟 申请(专利权)人: 泰克元有限公司
主分类号: B07C5/00 分类号: B07C5/00
代理公司: 北京冠和权律师事务所 11399 代理人: 朱健
地址: 韩国京畿道华城市东*** 国省代码: 韩国;KR
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摘要: 发明涉及半导体元件测试用分选机。根据本发明,在分选机的拾放装置结合用于从用户托盘等的载置要素去除异物的清洁器。通过如上所述的构成,本发明不仅能够清扫处于停止状态的空着的载置要素,而且其设置简单,且具有能够使清洁器设置空间最小化的优点。
搜索关键词: 半导体 元件 测试 分选
【主权项】:
一种半导体元件测试用分选机,其特征在于,包括:装载器,其将半导体元件从用户托盘装载至测试托盘;连接装置,其使由上述装载器而结束了装载的测试托盘的各半导体元件与测试器电连接;卸载器,其若由上述连接装置而与测试器电连接的各半导体元件的测试结束,则将半导体元件从测试托盘卸载至用户托盘;以及,清洁器,其对于在各半导体元件由上述装载器所腾出之后处于停止状态的用户托盘进行异物去除,或对于在半导体元件由上述卸载器所装填之前处于停止状态的用户托盘进行异物去除。
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