[发明专利]一种用于测量电压驻波比的装置和方法有效
| 申请号： | 201410648661.5 | 申请日： | 2014-11-14 |
| 公开（公告）号： | CN105652090B | 公开（公告）日： | 2018-08-24 |
| 发明（设计）人： | 黎峰;王昌弢;张龙飞;张曼 | 申请（专利权）人： | 上海诺基亚贝尔股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R27/06 | 分类号： | G01R27/06 |
| 代理公司： | 北京汉昊知识产权代理事务所(普通合伙) 11370 | 代理人： | 罗朋;励向南 |
| 地址： | 201206 上海市浦*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明的目的是提供一种用于测量电压驻波比的测量装置以及采用测量装置来测量待测天线的电压驻波比的方法。根据本发明的测量装置包括：信号提取装置，用于提取与所述输入信号对应的初始反射信号/所述初始反射信号中的干扰信号；校正装置，用于利用校正信号对所述初始反射信号/所述干扰信号的相位与振幅进行校正；读取装置，用于读取来自校正装置的、所述校正信号与所述初始反射信号/所述干扰信号进行矢量相减获得的结果信号，来分别确定所述初始反射信号/所述干扰信号的相位和幅度，以基于与同一输入信号以及同一待测天线相对应的初始反射信号和干扰信号的相位和幅度，确定该待测天线的电压驻波比。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 用于 测量 电压 驻波 装置 方法 | ||
【主权项】：
1.一种用于测量电压驻波比的测量装置，其中，所述测量装置包括：‑信号提取装置，用于提取与输入信号对应的初始反射信号和所述初始反射信号中的干扰信号；‑校正装置，用于利用校正信号对所述初始反射信号和所述干扰信号的相位与振幅进行校正；‑读取装置，用于读取来自校正装置的、所述校正信号与所述初始反射信号和所述干扰信号进行矢量相减获得的结果信号，来分别确定所述初始反射信号和所述干扰信号的相位和幅度，以基于与同一输入信号以及同一待测天线相对应的初始反射信号和干扰信号的相位和幅度，确定该待测天线的电压驻波比。
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