[发明专利]一种用于测量电压驻波比的装置和方法

说明书

本发明的目的是提供一种用于测量电压驻波比的测量装置以及采用测量装置来测量待测天线的电压驻波比的方法。根据本发明的测量装置包括：信号提取装置，用于提取与所述输入信号对应的初始反射信号/所述初始反射信号中的干扰信号；校正装置，用于利用校正信号对所述初始反射信号/所述干扰信号的相位与振幅进行校正；读取装置，用于读取来自校正装置的、所述校正信号与所述初始反射信号/所述干扰信号进行矢量相减获得的结果信号，来分别确定所述初始反射信号/所述干扰信号的相位和幅度，以基于与同一输入信号以及同一待测天线相对应的初始反射信号和干扰信号的相位和幅度，确定该待测天线的电压驻波比。

技术领域

本发明涉及通信技术领域，尤其涉及一种用于测量电压驻波比的装置和方法。

背景技术

现有技术中，在诸如射频拉远单元(Radio Remote Unit，RRU)或收发双工器(Transceiver duplexer，TRDU)模块等射频设备中需要对天线的电压驻波比(VoltageStanding Wave Ratio，VSWR)进行检测，从而判断天线的连接状态。为了得出天线的电压驻波比，需要测量出天线产生的反射信号的电压值，然而基于现有技术的方式，所测量的反射信号往往包含干扰信号。

图1示意出了根据现有技术的一种检测电压驻波比的装置的结构示意图。参照图1，该装置包括一个放大器、一个耦合器、两个滤波器、一个环形器、两个衰减器、一个低噪声放大器(low Noise Amplifier，LNA)、一个混频器、一个模数转换器(Analog-to-DigitalConverter，ADC)、一个开关以及一个待检测的天线。

当该装置连接到天线并且将开关切换到右边时，图1所示的装置通过ADC来读取由于天线阻抗不匹配而产生的反射信号的振幅，并基于模数转换器读取的反射信号的振幅以及已知的输入信号的振幅来得到该天线的电压驻波比。然而，实际上基于如图1所示的方式，ADC所读取的振幅是实线表示的实际的反射信号的振幅与虚线表示的干扰信号的振幅的总和。该干扰信号包括测量装置本身的器件，如耦合器、环形器等可能泄露的一部分信号，以及测量线路上一个或多个其他器件，如图1中所示的靠近天线部分的滤波器等阻抗失配所导致的干扰的信号。

一些现有技术的方案将测量驻波比的装置连接至匹配负载来测量干扰信号的振幅大小，从而通过将测量得到的反射信号的振幅减去干扰信号的振幅来得到实际反射信号的振幅，以实现对干扰信号的修正。然而，基于该方式，通过标量减法来得到实际的反射信号，没有考虑干扰信号和反射信号的相位。这样，如果两个待测的天线各自的反射信号具有相同的振幅和不同的相位，当该两个天线的实际反射信号的振幅与干扰信号的振幅接近时，基于现有技术的方式所测量的该两个天线的电压驻波比可能相差很大。

因此，基于现有技术的方式所检测到的电压驻波比一般不够精确，从而容易导致对天线的连接状态做出错误的判断。

发明内容

本发明的目的是提供一种用于测量电压驻波比的测量装置以及采用测量装置来测量待测天线的电压驻波比的方法。

根据本发明的一个方面，提供了一种用于测量电压驻波比的测量装置，其中，所述测量装置包括：

-信号提取装置，用于提取与所述输入信号对应的初始反射信号/所述初始反射信号中的干扰信号；

-校正装置，用于利用校正信号对所述初始反射信号/所述干扰信号的相位与振幅进行校正；

-读取装置，用于读取来自校正装置的、所述校正信号与所述初始反射信号/所述干扰信号进行矢量相减获得的结果信号，来分别确定所述初始反射信号/所述干扰信号的相位和幅度，以基于与同一输入信号以及同一待测天线相对应的初始反射信号和干扰信号的相位和幅度，确定该待测天线的电压驻波比。

根据本发明的一个方面，还提供了一种采用测量装置来测量待测天线的电压驻波比的方法，其中，所述方法包括以下步骤：