[发明专利]一种采用X射线荧光光谱检测重金属的薄膜标准品的制备装置及其应用有效
申请号: | 201410616682.9 | 申请日: | 2014-11-05 |
公开(公告)号: | CN104307376A | 公开(公告)日: | 2015-01-28 |
发明(设计)人: | 甘婷婷;张玉钧;殷高方;赵南京;刘建国;刘文清 | 申请(专利权)人: | 中国科学院合肥物质科学研究院 |
主分类号: | B01D63/08 | 分类号: | B01D63/08;G01N1/40 |
代理公司: | 广州市天河庐阳专利事务所 44244 | 代理人: | 胡济元 |
地址: | 230031 安徽*** | 国省代码: | 安徽;34 |
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摘要: | 本发明涉及一种采用X射线荧光光谱检测重金属的薄膜标准品的制备装置,该装置由漏杯、膜片夹持器和接收瓶组成;所述的膜片夹持器由漏斗、网片和弹性压套组成;所述的漏斗具有一个圆柱形的体部,该体部的上部为向内径向收缩并向上延伸的圆柱形的口部,下部为圆锥形的漏口,该漏口上部的外径小于所述体部的外径,在二者的结合部形成一环形的支呈台阶;所述漏斗体部的外表面上设有外螺纹;所述的弹性压套为圆盘状,其下表面为盲孔,上表面设有与所述漏斗口部内径相等并与所述漏斗连通的过液孔;所述的网片为布满网孔的圆片,且位于弹性压套下表面所设盲孔的底面与漏斗的圆柱形口部的端面之间。本装置可用于制备所述的薄膜标准品。 | ||
搜索关键词: | 一种 采用 射线 荧光 光谱 检测 重金属 薄膜 标准 制备 装置 及其 应用 | ||
【主权项】:
一种采用X射线荧光光谱检测重金属的薄膜标准品的制备装置,该装置由漏杯、膜片夹持器和接收瓶组成,其中,(1)所述的膜片夹持器由漏斗、网片和弹性压套组成;其中,所述的漏斗具有一个圆柱形的体部,该体部的上部为向内径向收缩并向上延伸的圆柱形的口部,下部为圆锥形的漏口,该漏口上部的外径小于所述体部的外径,在二者的结合部形成一环形的支呈台阶;所述漏斗体部的外表面上设有外螺纹;所述的弹性压套为圆盘状,其下表面为盲孔,上表面设有与所述漏斗口部内径相等的并与所述漏斗连通的过液孔;所述漏斗的圆柱形口部紧套于所述的盲孔内;所述的网片为布满网孔的圆片,其直径与所述漏斗的圆柱形的口部的外径相等,且位于弹性压套下表面所设盲孔的底面与漏斗的圆柱形口部的端面之间;(2)所述的漏杯的底部设有向内径向收缩并向下延伸的圆柱形的漏管,该漏管内设有与漏斗体部外表面上所设的外螺纹相匹配的内螺纹,该内螺纹上的内壁向内径向收缩至内径不大于所述弹性压套上表面所设过液孔的直径,形成一推压弹性压套的环形台阶;(3)所述的膜片夹持器螺纹连接在所述漏管的端口内,所述膜片夹持器的漏斗上所设的支呈台阶支呈在接收瓶的瓶口上。
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