[发明专利]一种异形颗粒的粒度表征方法有效

专利信息
申请号: 201410602644.8 申请日: 2014-10-31
公开(公告)号: CN104297111A 公开(公告)日: 2015-01-21
发明(设计)人: 贾木欣;周俊武;徐宁;赵建军;付强;王俊平;应平;李鹏程;王竹萌 申请(专利权)人: 北京矿冶研究总院
主分类号: G01N15/02 分类号: G01N15/02
代理公司: 北京凯特来知识产权代理有限公司 11260 代理人: 郑立明;郑哲
地址: 100160 北京市丰台区*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明公开了一种异形颗粒的粒度表征方法,包括:确定异形颗粒的重心点,测量穿过所述重心的若干条直线中的每条直线旋转预定角度时扫过异形颗粒的面积,及异形颗粒的总面积;计算每条直线旋转预定角度时扫过异形颗粒的面积与异形颗粒的总面积比值;确定每条直线在所述异形颗粒中的有效长度作为该条直线对应的粒度,并建立所述粒度与所述面积比的对应关系;计算同一粒度对应的面积比总和,作为该粒级在异形颗粒中的含量比,获得异形颗粒中不同粒级的含量比。本发明可以全面准确地表征矿物颗粒的粒度特征,为评价工艺生产过程中包含异形颗粒的物料特性提供重要信息。
搜索关键词: 一种 异形 颗粒 粒度 表征 方法
【主权项】:
一种异形颗粒的粒度表征方法,其特征在于,包括:确定异形颗粒的重心点,测量穿过所述重心的若干条直线中的每条直线旋转预定角度时扫过异形颗粒的面积,及异形颗粒的总面积;计算每条直线旋转预定角度时扫过异形颗粒的面积与异形颗粒的总面积比值,作为该条直线对应的面积比;确定所述若干条直线中的每条直线在所述异形颗粒中的有效长度作为该条直线对应的粒度,并建立所述每条直线对应的粒度与所述面积比的对应关系;计算同一粒度对应的面积比总和,作为该粒级在异形颗粒中的含量比,获得异形颗粒中不同粒级的含量比。
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