[发明专利]一种异形颗粒的粒度表征方法

权利要求书

1.一种异形颗粒的粒度表征方法，其特征在于，包括：

确定异形颗粒的重心点，测量穿过所述重心的若干条直线中的每条直线旋转预定角度时扫过异形颗粒的面积，及异形颗粒的总面积；

计算每条直线旋转预定角度时扫过异形颗粒的面积与异形颗粒的总面积比值，作为该条直线对应的面积比；

确定所述若干条直线中的每条直线在所述异形颗粒中的有效长度作为该条直线对应的粒度，并建立所述每条直线对应的粒度与所述面积比的对应关系；

计算同一粒度对应的面积比总和，作为该粒级在异形颗粒中的含量比，获得异形颗粒中不同粒级的含量比。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述旋转预定角度包括：

以所述重心点为旋转，将该条直线分别向顺时针方向和逆时针方向旋转预定角度。

3.根据权利要求1或2所述的方法，其特征在于，所述若干条直线均匀分布于以所述重心点为中心的360度范围中，且若干条直线中的每条直线旋转预定角度时扫过异形颗粒的面积的总和等于异形颗粒的总面积。

4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述若干条直线为18条直线，且所述预定角度为5度。

5.根据权利要求1或2所述的方法，其特征在于，该方法还包括：

当完成针对多个异形颗粒的测量并获得各个异形颗粒中不同粒级的含量比后，则将多个异形颗粒中的同一粒度对应的面积比进行加和处理，以作为该粒级在该多个异形颗粒中的含量比。

6.根据权利要求1或2所述的方法，其特征在于，该方法还包括：

当完成针对一个或多个异形颗粒的测量并获得一个或多个异形颗粒中不同粒级的含量比后，则将一个或多个异形颗粒中的同一粒度对应的面积比与通过其他方式测量获得的一个或多个非异形颗粒的测量结果中的同一粒度的占比进行加和处理，以作为该粒级在一个或多个异形颗粒及一个或多个非异形颗粒中的含量比。