[发明专利]用于存储器时序测试的扫描链、扫描链构建方法和相应装置有效

专利信息
申请号: 201410599243.1 申请日: 2014-10-30
公开(公告)号: CN105572573B 公开(公告)日: 2018-08-24
发明(设计)人: 侯吉祥;刘俐敏;王柳笛;吕寅鹏;李海龙 申请(专利权)人: 国际商业机器公司
主分类号: G01R31/3177 分类号: G01R31/3177
代理公司: 北京市中咨律师事务所 11247 代理人: 周良玉;于静
地址: 美国*** 国省代码: 美国;US
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摘要: 发明公开了一种构建用于存储器时序测试的扫描链的方法,包括:确定存储器的输入边界寄存器,根据所述输入边界寄存器所连接到的存储器输入引脚的类型,确定所需的测试向量的数目N;基于所述数目N,布置扫描链,使得在所述扫描链中,在所述输入边界寄存器的上游且紧邻所述输入边界寄存器,存在至少(N‑1)个连续的非边界寄存器;以及设置输入边界寄存器以及(N‑1)个非边界寄存器的控制信号,使其在存储器时序测试模式下接收扫描测试输入作为测试向量。还公开了如此构建的扫描链,以及相应的装置。由此,优化了测试向量的产生和加载过程,提高了测试效率。
搜索关键词: 用于 存储器 时序 测试 扫描 构建 方法 相应 装置
【主权项】:
1.一种构建用于存储器时序测试的扫描链的方法,包括:确定存储器的输入边界寄存器,所述输入边界寄存器是存储器的输入引脚所直接连接到的第一级寄存器;根据所述输入边界寄存器所直接连接到的存储器输入引脚的类型,确定所述输入边界寄存器所需的测试向量的数目N;基于所述数目N,布置扫描链,使得在所述扫描链中,在所述输入边界寄存器的上游且紧邻所述输入边界寄存器,存在至少N‑1个连续的非边界寄存器;以及设置所述输入边界寄存器以及所述N‑1个非边界寄存器的每一个的控制信号,使其在存储器时序测试模式下接收扫描测试输入作为测试向量。
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