[发明专利]高性能测试向量生成方法及生成器

摘要

本发明提供了一种高性能测试向量生成方法及生成器，包括码生成模块以及进位链模块；码生成模块时钟端clk作为高性能测试向量生成器的时钟端，码生成模块码输出端Q1…Qn作为高性能测试向量生成器的码输出端。本发明中，测试码(即测试向量)的位数越大，其跳变率降低的幅度越大，且本发电路简单，功耗小，易于模块化，易于码位扩展；进一步地，本发明生成码低跳变，全状态，故障覆盖率高，易于硬件和软件实现，也易于可编程器件实现。

主权项

一种高性能测试向量生成器，其特征在于，包括码生成模块以及进位链模块；码生成模块含有：码输出端Q₁...Q_n，级进位输出端c_o1...c_o(k‑1)，输入端c_i1...c_ik，时钟端clk；进位链模块含有：输出端y₁...y_k‑1，输入端x₁...x_k‑1；码生成模块级进位输出c_o1...c_o(k‑1)依次与进位链模块输入端x₁...x_k‑1连接，码生成模块输入端c_i2...c_ik依次与进位链模块输出y₁...y_k‑1连接，c_i1接高电平+Vcc；码生成模块时钟端clk作为高性能测试向量生成器的时钟端，码生成模块码输出端Q₁...Q_n作为高性能测试向量生成器的码输出端；n表示测试码位数，k表示码单元级数，其中，测试码即测试向量；码生成模块包括k级码单元，其中，各级码单元时钟端clk_u，u＝1，2，...，k‑1，k，连接在一起，构成码生成模块时钟端clk，下标u表示第u级；各级码单元状态输出端按序构成码生成模块码输出端Q₁...Q_n；除最高级码单元外，其它各级码单元进位输出端c_o按序构成码生成模块级进位输出端c_o1...c_o(k‑1)；各级码单元输入端c_i按序构成码生成模块输入端c_i1...c_ik。