[发明专利]半导体器件和电子控制器件

摘要

本发明涉及一种半导体器件和电子控制器件。抑制测量电阻的检测准确性由于选择开关的导通电阻而下降。选择开关提供在通过参考电阻耦合至第一电压的第一节点和通过测量电阻耦合至第二电压的多个第二节点之间，并且利用选择开关选择将要被耦合至第一节点的第二节点。修正电路产生通过将第二电压添加到在第二节点和第一节点之间的电压而得到的电压，作为修正电压。二重积分ADC求出修正电压相对于第一节点的电压的电压差被积分到第一电压时所经过的第一积分时间和当第一电压相对于第一节点的电压的电压差被积分到修正电压时所经过的第二积分时间。

主权项

1.一种半导体器件，包括：第一节点，所述第一节点通过参考电阻耦合至第一电压；多个第二节点，所述多个第二节点通过测量电阻耦合至第二电压；多个选择开关，所述多个选择开关用于选择将要被耦合至所述第一节点的第二节点；修正电路，所述修正电路产生通过将所述第二电压添加到在由所述选择开关所选择的所述第二节点和所述第一节点之间的电压而得到的电压，作为修正电压；以及二重积分模拟‑数字转换电路，所述二重积分模拟‑数字转换电路求出当所述修正电压相对于所述第一节点的电压的电压差被积分到所述第一电压时所经过的第一积分时间，以及当所述第一电压相对于所述第一节点的电压的电压差被积分到所述修正电压时所经过的第二积分时间。