[发明专利]半导体器件和电子控制器件有效

专利信息
申请号: 201410553580.7 申请日: 2014-10-17
公开(公告)号: CN104570789B 公开(公告)日: 2019-05-07
发明(设计)人: 今真澄;工藤穰 申请(专利权)人: 瑞萨电子株式会社
主分类号: G05B19/04 分类号: G05B19/04
代理公司: 北京市金杜律师事务所 11256 代理人: 王茂华
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要:
搜索关键词: 修正电压 耦合 电子控制器件 半导体器件 测量电阻 电压差 参考电阻 导通电阻 修正电路 检测
【权利要求书】:

1.一种半导体器件,包括:

第一节点,所述第一节点通过参考电阻耦合至第一电压;

多个第二节点,所述多个第二节点通过测量电阻耦合至第二电压;

多个选择开关,所述多个选择开关用于选择将要被耦合至所述第一节点的第二节点;

修正电路,所述修正电路产生通过将所述第二电压添加到在由所述选择开关所选择的所述第二节点和所述第一节点之间的电压而得到的电压,作为修正电压;以及

二重积分模拟-数字转换电路,所述二重积分模拟-数字转换电路求出当所述修正电压相对于所述第一节点的电压的电压差被积分到所述第一电压时所经过的第一积分时间,以及当所述第一电压相对于所述第一节点的电压的电压差被积分到所述修正电压时所经过的第二积分时间。

2.根据权利要求1所述的半导体器件,

其中,所述二重积分模拟-数字转换电路具有:

积分电路,所述积分电路执行对所述修正电压相对于所述第一节点的电压的电压差积分的第一积分操作,以及对所述第一电压相对于所述第一节点的电压的电压差积分的第二积分操作;

检测电路,所述检测电路当在所述第一积分操作中所述积分电路的积分输出达到所述第一电压时,产生第一检测信号,并且当在所述第二积分操作中所述积分电路的积分输出达到所述修正电压时,产生第二检测信号;

计数器,所述计数器用于对时钟信号进行计数;以及

控制电路,所述控制电路获取从当所述积分电路开始所述第一积分操作直到产生所述第一检测信号时所述计数器的第一计数值,以及从当开始所述第二积分操作直到产生所述第二检测信号时所述计数器的第二计数值。

3.根据权利要求2所述的半导体器件,

其中,所述积分电路是米勒积分电路,所述米勒积分电路在其同相输入端处接收所述第一节点的电压,并且在其反相输入端处选择性地接收所述第一电压或所述修正电压。

4.根据权利要求1所述的半导体器件,

其中,所述修正电路具有:

第一缓冲放大器,所述第一缓冲放大器用于接收所述第一节点的电压;

第二缓冲放大器,所述第二缓冲放大器用于接收由所述选择开关选择的所述第二节点的电压;以及

差分放大器,所述差分放大器形成通过将所述第二电压添加到所述第二缓冲放大器的输出相对于所述第一缓冲放大器的输出的电压差而获得的电压,作为所述修正电压。

5.根据权利要求1所述的半导体器件,

其中,所述修正电路包括:

运算放大器,所述运算放大器在其同相输入端处接收所述第二电压,并且在其反相输入端处连结输入电容的一个电容电极;

第一开关,所述第一开关将所述运算放大器的输出端子反馈耦合至所述反相输入端;

反馈电容,所述反馈电容并联耦合至所述第一开关;

第二开关,所述第二开关是与所述第一开关同相开关控制的,并且将所述第一节点的电压施加到处于导通状态的所述输入电容的另一电容电极;以及

第三开关,所述第三开关是与所述第一开关反相开关控制的,并且将所述第二节点的电压施加到处于导通状态的所述输入电容的另一电容电极。

6.根据权利要求1所述的半导体器件,

其中,所述第一节点和所述第二节点是外部端子。

7.一种半导体器件,包括:

第一节点,所述第一节点通过参考电阻耦合至第一电压;

多个第二节点,所述多个第二节点通过测量电阻耦合至第二电压;

多个选择开关,所述多个选择开关用于选择将要被耦合至所述第一节点的第二节点;

修正电路,所述修正电路产生通过从所述第一电压减去由所述选择开关所选择的所述第二节点和所述第一节点之间的电压而获得的电压,作为修正电压;以及

二重积分模拟-数字转换电路,所述二重积分模拟-数字转换电路求出当所述修正电压相对于所述第二节点的电压的电压差被积分到所述第二电压时所经过的第一积分时间,以及当所述第二电压相对于所述第二节点的电压的电压差被积分到所述修正电压时所经过的第二积分时间。

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