[发明专利]用于测量导体在绝缘包皮中的同心度的方法和设备

摘要

用于测量导体在绝缘包皮中的同心度的方法，由导体及其绝缘包皮构成的缆线沿着输送方向运动，该方法包括以下步骤：在感应测量平面中测定导体的位置；在沿输送方向处于感应测量平面上游的第一光学测量平面中测定缆线的位置在沿输送方向处于感应测量平面下游的第二光学测量平面中测定缆线的位置；在第一和第二光学测量平面中测定的缆线位置彼此这样关联：得出缆线在感应测量平面中的位置；由缆线在感应测量平面中的位置以及由导体的位置来确定导体在绝缘包皮中的同心度，其中，这样进行空间分辨的光学测量：识别出缆线相对于输送方向的倾斜位置和/或弯曲，在确定导体在绝缘包皮中的同心度时考虑倾斜位置和/或弯曲。本发明还涉及一种相应的设备。

主权项

1.用于测量导体在绝缘包皮中的同心度的方法，其中，由导体及其绝缘包皮构成的缆线(28)沿着一输送方向(14)运动，所述方法包括以下步骤：在一感应测量平面中借助感应测量装置来测定所述导体的位置，在沿所述缆线(28)的输送方向(14)处于所述感应测量平面上游的第一光学测量平面中，借助至少一个第一光学测量装置(16)来测定所述缆线(28)的位置，在沿所述缆线(28)的输送方向(14)处于所述感应测量平面下游的第二光学测量平面中，借助至少一个第二光学测量装置(18)来测定所述缆线(28)的位置，在所述第一和第二光学测量平面中测定的所述缆线(28)的位置彼此这样关联：得出所述缆线(28)在所述感应测量平面中的位置，和由这个得出的所述缆线(28)在所述感应测量平面中的位置以及由在所述感应测量平面中测定的所述导体的位置来确定所述导体在所述绝缘包皮中的同心度，其中，在所述第一光学测量平面中和/或在所述第二光学测量平面中这样进行空间分辨的光学测量：识别出所述缆线(28)相对于所述输送方向(14)的倾斜位置和/或弯曲，其中，在确定所述导体在所述绝缘包皮中的同心度时考虑这样的倾斜位置和/或弯曲。