[发明专利]用于测量导体在绝缘包皮中的同心度的方法和设备

权利要求书

1.用于测量导体在绝缘包皮中的同心度的方法，其中，由导体及其绝缘包皮构成的缆线(28)沿着一输送方向(14)运动，所述方法包括以下步骤：

在一感应测量平面中借助感应测量装置来测定所述导体的位置，

在沿所述缆线(28)的输送方向(14)处于所述感应测量平面上游的第一光学测量平面中，借助至少一个第一光学测量装置(16)来测定所述缆线(28)的位置，

在沿所述缆线(28)的输送方向(14)处于所述感应测量平面下游的第二光学测量平面中，借助至少一个第二光学测量装置(18)来测定所述缆线(28)的位置，

在所述第一和第二光学测量平面中测定的所述缆线(28)的位置彼此这样关联：得出所述缆线(28)在所述感应测量平面中的位置，和

由这个得出的所述缆线(28)在所述感应测量平面中的位置以及由在所述感应测量平面中测定的所述导体的位置来确定所述导体在所述绝缘包皮中的同心度，

其中，在所述第一光学测量平面中和/或在所述第二光学测量平面中这样进行空间分辨的光学测量：识别出所述缆线(28)相对于所述输送方向(14)的倾斜位置和/或弯曲，其中，在确定所述导体在所述绝缘包皮中的同心度时考虑这样的倾斜位置和/或弯曲。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，在所述第一光学测量平面中和在所述第二光学测量平面中分别这样进行空间分辨的光学测量，使得识别出所述缆线相对于所述输送方向的倾斜位置和/或弯曲。

3.根据权利要求1或权利要求2所述的方法，其特征在于，根据识别出的所述缆线(28)相对于所述输送方向(14)的倾斜位置和/或弯曲来建立所述缆线(28)在所述感应测量平面中的修正位置，在其基础上确定所述导体在所述绝缘包皮中的同心度。

4.根据权利要求1或2所述的方法，其特征在于，从在所述第一光学测量平面中和/或在所述第二光学测量平面中实施的光学测量来测定所述缆线(28)的曲率半径或者曲率直径，在其基础上建立所述缆线(28)在所述感应测量平面中的修正位置。

5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，测定所述缆线(28)的曲率半径或者曲率直径，其方式是：构成一个圆，对于该圆，在所述第一光学测量平面中和/或在所述第二光学测量平面中识别出的所述缆线(28)的弯曲构成圆弧段，其中，选择这个圆的半径或直径作为曲率半径或曲率直径。

6.根据权利要求5所述的方法，其特征在于，对于在所述第一光学测量平面中和/或在所述第二光学测量平面中识别出的所述缆线(28)的弯曲，选择两个径向线的交点作为所述圆的中心点。

7.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，在所述第一光学测量平面中和/或在所述第二光学测量平面中识别出所述缆线(28)的倾斜位置时测定所述曲率半径或曲率直径，其方式是：在所述缆线(28)的测定的倾斜位置上分别建立一垂直线并且选择各所述垂直线的交点作为圆的中心点，测定的所述缆线(28)的倾斜位置相对于该圆构成切线或弦，其中，选择这个圆的半径或直径作为曲率半径或曲率直径。

8.根据权利要求1或2所述的方法，其特征在于，所述感应测量平面和/或所述第一光学测量平面和/或所述第二光学测量平面垂直于所述缆线(28)的输送方向(14)。

9.根据权利要求1或2的方法，其特征在于，所述缆线(28)沿着它的输送方向(14)通过多个支撑元件支撑，其中，直接位于所述感应测量平面前面的支撑元件和直接位于所述感应测量平面后面的支撑元件相对于所述感应测量平面镜像对称地设置。

10.根据权利要求1或2所述的方法，其特征在于，所述至少一个第一光学测量装置(16)和/或所述至少一个第二光学测量装置(18)包括至少一个光学射线源和至少一个二维空间分辨的光学传感器。